[发明专利]基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法

权利要求书

1.一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：通过X射线荧光元素录井技术对泥岩中的化学元素进行分析，得到泥岩中元素的含量，利用主量元素进行岩性定名；步骤2：通过微量元素Sr确定元素标志层；步骤3：对标志层上、下的泥岩进行数据分析，将标志层上部的泥岩定义为盐间泥岩，利用数据统计盐间泥岩各元素的平均含量，当标志层下部出现泥岩，且Mg含量升高，达到盐间泥岩Mg的含量1.5-2倍时，同时确定Cl元素的含量是否低于2％以下，如果符合，则判断是符合盐底泥岩的特征；步骤4：通过图版进行判别，将元素数据落入三角图版和交汇图版中，通过落点的区域来判断是否为盐底泥岩。

2.如权利要求1所述的基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于：步骤1中所述化学元素分析为利用X射线元素录井技术分析泥岩中Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、Mn、Fe、V、Ni、Sr、Zr这17种元素的含量。

3.如权利要求2所述的基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于：步骤1中所述岩性定名是利用Si元素在砂岩中富集；A1、Fe元素在泥岩中富集；Ca元素在灰岩中富集；Mg、Ca在白云岩中富集；Ca、S元素在石膏岩中富集；Na、Cl元素在盐岩中富集这一规律进行岩性区分定义的。

4.如权利要求3所述的基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于：通过化学元素分析和岩性区分的结果建立岩性剖面图。

5.如权利要求1所述的基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于：步骤2中所述微量元素为Sr，所述元素标志层为Sr含量大于5000ppm的泥岩层。

6.如权利要求1所述的基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于：步骤3中所述三角图版为选取Mg、K、Ti三个元素的数据通过归一化处理获取的数据再落入到图版中；所述交汇图版为选取K、Cl、Mg、Al四个元素的数据，通过计算K/Cl和Mg/Al的比值，并落入到交汇图版中。