[发明专利]一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法

权利要求书

1.一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法，该方法包括以下步骤：

步骤1：采集整个液晶屏清晰的像素图像；

步骤2：对步骤1中的图像进行灰度化处理，转化为灰度图像；

步骤3：对步骤2中的灰度图像进行傅里叶正变换，得到灰度图像的二维频谱图；

步骤4：通过巴斯特沃高通滤波器滤除步骤3中二维频谱图的低频部分，使图像细节得到增强，再进行傅里叶反变换得到时域图；

步骤5：对步骤4中的时域图分别进行行投影和列投影，并分别求取行投影和列投影后的极小值；

步骤6：获取步骤5中行投影和列投影后相邻极小值的距离，并求取行投影和列投影后相邻极小值的平均距离；

步骤7：根据行投影和列投影的相邻极小值的平均距离及极小值的位置，将步骤1的图像分割为网状的像素块图像；

步骤8：将步骤7的网状图像划分为多个局部小区域，每个局部小区域包含多个像素块；

步骤9：计算步骤8中局部小区域内的每个像素块的像素值；

步骤10：利用步骤9计算的局部小区域中各像素块的像素值，采用曲面拟合计算出每个像素块的像素拟合值；

步骤11：将步骤10求得的各像素块的像素拟合值与步骤9求得的对应像素块的实际像素值做差并取绝对值，获得各像素块拟合差值；

步骤12：对步骤11计算的各像素块拟合差值求平均，将该平均值乘以一定倍数作为判定像素块是否为缺陷的阈值；

步骤13：将步骤11计算的局部拟合差值与步骤12计算的平均值作差，如果差值结果大于阈值则该像素块判定为缺陷像素块，否则为正常像素块；

步骤14：按照步骤9至步骤13的相同方法检测下一个局部小区域是否存在缺陷像素块；

步骤15：如果所有局部小区域都没有缺陷则被检测液晶屏就无缺陷，当检测到有局部小区域存在缺陷，则该液晶屏就是有缺陷，停止该液晶屏的检测。

2.如权利要求1所述的一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法，其特征在于所述步骤3，具体通过以下过程实现：

傅里叶正变换实现从时域到频域的变换公式为:

其中F(u,v)指经傅里叶变换后的频域值，x,y指时域中的像素位置，f(x,y)指时域中对应于(x,y)位置的像素值，M，N分别指时域下图片的长和宽。

3.如权利要求1所述的一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法，其特征在于所述步骤4，具体通过以下过程实现：

巴斯特沃高通滤波器表示如下：

其中H指巴斯特沃滤波器函数，D(u,v)是指(u,v)点距离频率矩形原点的距离，其计算表达式如下：D₀是指截止频率距离原点的距离。

4.如权利要求1所述的一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法，其特征在于所述步骤9，具体通过以下过程实现：

对每个独立像素所有R,G,B通道的像素值求和，然后进行归一化，将归一化后的值作为每个像素块的像素值。