[发明专利]用于确定发光元件阵列芯片的缺陷的图像形成装置

权利要求书

1.一种图像形成装置，包括：

多个发光元件阵列芯片，包括发光元件阵列和转移元件阵列；以及

控制驱动器，其向所述多个发光元件阵列芯片施加信号并且包括测量从所述多个发光元件阵列芯片输出的信号的检验端子；

电阻器，连接在所述发光元件阵列的数据信号输入端子和所述发光元件阵列的数据线之间；

比较单元，连接在检验端子和所述发光元件阵列的数据线之间，将阈值与从所述数据线测量的电压进行比较，并且向所述检验端子输出比较的结果，

其中，所述控制驱动器通过分析在所述检验端子处测量的信号来确定所述多个发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷。

2.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述多个发光元件阵列芯片中的每一个包括连接至所述发光元件阵列的数据线的晶体管，并且

所述晶体管的发射极并联连接，并且所述发射极中的每一个连接至检验端子和下拉电阻器。

3.如权利要求2所述的图像形成装置，其中，所述控制驱动器施加使得包括在第一发光元件阵列芯片中的所有发光元件发光的数据信号，并且施加使得除了第一发光元件阵列芯片之外的发光元件阵列芯片不操作的数据信号，以及

当响应于所述数据信号而在所述检验端子处测量的信号为低时，确定第一发光元件阵列芯片有缺陷。

4.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述多个发光元件阵列芯片中的每一个包括连接至所述发光元件阵列的数据线的晶体管，并且

所述晶体管的集电极并联连接，并且所述集电极中的每一个连接至检验端子和上拉电阻器。

5.如权利要求4所述的图像形成装置，其中，所述控制驱动器施加使得包括在第一发光元件阵列芯片中的所有发光元件发光的数据信号，并且施加使得除了第一发光元件阵列芯片之外的发光元件阵列芯片不操作的数据信号，以及

当响应于所述数据信号而在所述检验端子处测量的信号为高时，确定第一发光元件阵列芯片有缺陷。

6.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，包括在所述转移元件阵列中的最后的转移元件的门极并联连接，并且

所述图像形成装置还包括连接在检验端子和门极之间的上拉电阻器。

7.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述转移元件阵列中的每一个包括二极管，

所述二极管的阴极连接至所述转移元件阵列的最后的二极管的阴极，并且

所述二极管的阳极连接至检验端子和上拉电阻器。

8.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述转移元件阵列中的每一个包括晶体管，

所述晶体管的基极连接至所述转移元件阵列的最后的转移元件的门极，并且

所述晶体管的集电极连接至检验端子和上拉电阻器。

9.如权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述转移元件阵列中的每一个包括晶体管，

所述晶体管的基极连接至所述转移元件阵列的最后的转移元件的门极，并且

所述晶体管的发射极连接至检验端子和下拉电阻器。