[发明专利]一种履带式X光检测设备及物料分选装置

说明书

技术领域

本发明属于光电分选技术领域，尤其涉及一种X光检测设备及使用该设备的物料分选装置。

背景技术

检测精度、产量与可靠性是X光机的三项关键指标。

检测精度取决于探测器的分辨率、图像处理器、识别算法和异物的剔除率(被剔除掉的异物个数/被识别的异物个数)。在不改变前三个条件的情况下，如果能提高剔除率(当然前提是不增加好料的带出量)，则就提高了设备的实际检测精度。

现有X光异物检测设备的射源与探测器对立设置在履带中部，剔除装置位于传送带的尾端，物料由履带传输，经过探测器位置时，探测器记录信号。该信号由专门的处理器进行识别，控制剔除装置进行动作，从物料中的将异物剔除。

待选物料需要经过履带的一段加速之后，物料才能在履带上稳定下来，从而在物料经过探测器的时候，才能够形成一个清晰的图像。当前普遍采用的X光异物结构是，履带长度略大于处理器，射源设置在履带中段上部。如果设备入口直接连接进料，则由于前端履带不足够长，待选物料在经过履带加速到达探测器位置的时候还没有稳定下来，就将导致拍摄的图像不清楚，从而影响筛选的精度。而且物料在经过射源之后还要运动一段距离才能到执行机构的位置，在这段距离中物料可能转动和/或平动，从而与前面拍摄下来的图像不一致，再经过执行机构的动作，极大地增加了剔除物料的不准确性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题之一在于提供一种能够提高剔除物料的精度的履带式X光检测设备。

本发明所要解决的技术问题之二在于提供一种能够提高剔除物料的精度的物料分选装置。

本发明采用以下技术方案解决上述技术问题之一的：一种履带式X光检测设备，包括X光射源(1)、探测器(2)、处理器、履带(10)以及剔除装置(20)，所述X光射源(1)以及探测器(2)分别对立设置在履带(10)的两侧，所述探测器(2)距履带(10)的起始端的水平距离与探测器(2)距履带(10)的末端的水平距离的比等于或者大于1。

作为优选的技术方案，所述剔除装置(20)设置在紧靠近探测器(2)的位置，所述剔除装置(20)与探测器(2)的水平距离介于5CM到50CM。

作为进一步优选的技术方案，所述剔除装置(20)与探测器(2)之间的相对位置确定，共同固定在X光检测设备的外壳内。

作为进一步优选的技术方案，所述X光射源(1)设置在物料分选装置的履带(10)的上方，探测器(2)对称设置在履带(10)的下方。

作为另一种优选的技术方案，所述X光射源(1)设置在物料分选装置的履带(10)的下方，探测器(2)对称设置在履带(10)的上方。

作为进一步优选的技术方案，X光射源(1)朝向履带(10)的一侧设置有限束器(3)。

作为进一步优选的技术方案，X光射源(1)的周向设置有防辐射的材料。

作为进一步优选的技术方案，所述剔除装置(20)为喷阀。

作为进一步优选的技术方案，所述喷阀的喷气口朝上或者朝下，所述喷阀喷气的方向与物料运动的方向的夹角大于0度小于180度，优选的为90度。

本发明是采用以下技术方案解决上述技术问题之二的：一种物料分选装置，包括供料器、滑道、履带(10)、X光射源(1)、探测器(2)、处理器、以及剔除装置(20)，所述X光射源(1)以及探测器(2)分别对立设置在履带(10)的两侧，所述探测器(2)距履带(10)的起始端的水平距离与探测器(2)距履带(10)的末端的水平距离的比等于或者大于1。

本发明的优点在于：

1、增加了前端履带加速长度，物料运动状态趋于平稳后达到探测器的位置，物料平稳了，从检测视点到剔除装置这段距离内，不会发生偏移，或者是减少发生偏移，保证剔除异物的精准性，同时减少运动模糊现象，物料的平稳能保证图像的清晰度，更利于识别，从而一定程度上改善了识别精度，最终反映到剔除精度的提高。

2、减小了检测视点与剔除装置间的距离，可靠地在相应的通道内剔除异物，极大程度地提高了异物的剔除率。

3、在X光射源的出射端增加一个X射线限束器，大大减少泄漏的辐射量。

4、探测器与剔除装置一体化:不再是传统的分离式结构，简化了调试难度，提高了设备的可靠性,并且降低了整机辐射。

附图说明

图1是实施例一的履带式X光检测设备的应用结构示意图。

图2是实施例二的履带式X光检测设备的应用结构示意图。

具体实施方式