[发明专利]风压开关测试设备有效
申请号: | 201510395674.0 | 申请日: | 2015-06-26 |
公开(公告)号: | CN105093101B | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 许正佳;张愈;章亮 | 申请(专利权)人: | 威能(无锡)供热设备有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214028 江苏省无锡市无锡国*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 风压 开关 测试 设备 | ||
本发明提供一种风压开关测试设备,其包括机壳、设置在机壳内的风机、风道、电磁阀、以及电流模块。其中,风道定义风机输出风的通路,其可与待测风压开关连通;电磁阀设置在机壳内并位于风道中以接通或断开风路;电流模块设置在机壳内并通过导线可与待测风压开关电性连接,电流模块用于监测通过导线的电信号。该测试设备采用风机、风道、电磁阀来模拟风压开关的风力采集,并且采用电流模块来检测风压开关触发动作后的电信号,可以模拟风压开关的多种实际运行状况,从而对风压开关进行可靠的寿命测试。
技术领域
本发明涉及一种测试设备,尤其涉及一种用于风压开关的寿命测试设备。
背景技术
典型的风压开关如欧洲专利公告EP 0 595 210 B1号所示,其利用气体的静压来推动微动开关以实现电流的通断。风压开关有两个检测口,即正压检测口和负压检测口,其腔体也由此分为正压腔和负压腔。两腔之间用皮膜隔离,当有压力源时皮膜移动微动开关从而达到开/关目的。
通常,风压开关可应用于燃气热水设备,如燃气热水器和燃气锅炉,其取样是采用负压检测口,该负压检测口与风机的负压区连通。设备开启后,风机先行运转,当风压开关检测到一个较高阈值时,表明风机运转正常,这时会启动点火;而当风机排风不畅,风压开关检测到一个较低阈值的时候,会控制设备停止工作。
目前,尚没有一种有效的测试方式来模拟风压开关的实际运行状态,以在出厂前对风压开关进行可靠的寿命测试。
发明内容
本发明的目的在于提供一种风压开关测试设备,其能够模拟风压开关的实际运行状态,从而对风压开关进行可靠地寿命测试。
实现上述发明目的,本发明提供一种风压开关测试设备,其包括机壳、设置在机壳内的风机、风道、电磁阀、以及电流模块。其中,风道定义风机输出风的通路,其可与待测风压开关连通;电磁阀设置在机壳内并位于风道中以接通或断开风路;电流模块设置在机壳内并通过导线可与待测风压开关电性连接,电流模块用于监测通过导线的电信号。
作为本发明的进一步改进,电流模块包括电流监测开关,电流监测开关处于常闭状态,当导线内没有电信号时,该电流监测开关断开。
作为本发明的进一步改进,电流模块还用于可被选择地输出不同大小的电流。
作为本发明的进一步改进,电流模块包括电阻组件,其中电阻组件包含至少两个具有不同阻值的电阻,该电流模块通过选择将具有不同阻值的电阻接入电路来输出不同大小的电流。
作为本发明的进一步改进,该设备还包括设置在机壳内的控制器,其与风机和电磁阀电性连接以用于控制风机和电磁阀的打开和关闭;控制器与电流模块电性连接以用于控制电流模块输出电流,并监测通过导线的电信号。
作为本发明的进一步改进,该设备还包括设置在机壳上的控制面板,该控制面板与控制器电性连接以用来设定测试参数。
作为本发明的进一步改进,在每一次的测试周期中,控制器控制电磁阀在一特定时段内接通并在另一特定时段内关闭。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:该测试设备采用风机、风道、电磁阀来模拟风压开关的风力采集,并且采用电流模块来检测风压开关触发动作后的电信号,可以模拟风压开关的多种实际运行状况,从而对风压开关进行可靠的寿命测试。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的有关本发明的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明的风压开关测试设备在一具体实施例中的平面示意图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于威能(无锡)供热设备有限公司,未经威能(无锡)供热设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510395674.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多功能门机机房报警系统
- 下一篇:一种SQUID芯片及其检测方法