[发明专利]一种电阻式位置传感器输出曲线修刻算法有效
申请号: | 201510396103.9 | 申请日: | 2015-07-08 |
公开(公告)号: | CN105068589B | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 袁广慧;王国荣 | 申请(专利权)人: | 上海新跃联汇电子科技有限公司 |
主分类号: | G05F1/565 | 分类号: | G05F1/565 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 | 代理人: | 徐雯琼,包姝晴 |
地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电阻 位置 传感器 输出 曲线 算法 | ||
1.一种电阻式位置传感器输出曲线修刻算法,
电阻式位置传感器包含:
第一可修刻电阻,所述第一可修刻电阻的一端与供电电压正端连接;
工作轨道电阻,所述工作轨道电阻的一端与所述第一可修刻电阻的另一端连接;
第二可修刻电阻,所述第二可修刻电阻的一端与所述工作轨道电阻的另一端连接,该第二可修刻电阻的另一端与供电电压负端连接;
所述工作轨道电阻上还设有滑动电刷,用于改变所述工作轨道电阻在实际工作中的阻值大小;
其特征在于,该输出曲线修刻算法的实施方法包含:
S1,测量施加在电阻式位置传感器的供电电压U、测量修刻前该电阻式位置传感器的滑动电刷在滑动在最大位置的输出电压Vmax_bt和最小位置时的输出电压Vmin_bt、测量修刻前该电阻式位置传感器的总电阻R_bt;测量修刻前电阻式位置传感器测量范围起点处输出电压Vs_bt、修刻前电阻式位置传感器测量范围结束处输出电压Ve_bt;
S2,分别计算修刻前第一可修刻电阻的阻值大小RU_bt、修刻前第二可修刻电阻的阻值大小RD_bt及工作轨道电阻RM;
S3,根据所述步骤S1、S2,计算该电阻式位置传感器测量范围之间滑动电刷滑动的电阻轨道上的有效阻值Res;
S4,分别推导出修刻后第一可修刻电阻的阻值大小RU_at、修刻后第二可修刻电阻的阻值大小RD_at;
S5,判断所述步骤S4获取的修刻后第一可修刻电阻的阻值大小RU_at、修刻后第二可修刻电阻的阻值大小RD_at是否合理;当合理时,跳转至步骤S6;当不合理时,结束;
S6,计算修刻后电阻式位置传感器测量范围起点处输出电压Vs_tt、修刻后电阻式位置传感器测量范围结束处输出电压Ve_tt;并根据Vs_tt、Ve_tt的电压值对修刻后的电阻式位置传感器进行闭环控制,结束。
2.如权利要求1所述的电阻式位置传感器输出曲线修刻算法,其特征在于,
所述步骤S1包含:
S1.1,采用数据采集卡或带有通讯接口的数字万用表测量供电电压U、最大位置时的输出电压Vmax_bt和最小位置时的输出电压Vmin_bt;
S1.2,采用数据采集卡、板卡式数字万用表或带有通讯接口的数字万用表测量修刻前该电阻式位置传感器的总电阻R_bt;
S1.3,采用数据采集卡或带有通讯接口的数字万用表测量修刻前电阻式位置传感器测量范围起点处输出电压Vs_bt、修刻前电阻式位置传感器测量范围结束处输出电压Ve_bt。
3.如权利要求1所述的电阻式位置传感器输出曲线修刻算法,其特征在于,所述步骤S2包含:
根据如下公式计算所述修刻前第二可修刻电阻的阻值大小RD_bt:
RD_bt=Vmin_bt×R_bt/U;
根据如下公式计算所述工作轨道电阻RM:
RM=(Vmax_bt-Vmin_bt)×R_bt/U;
根据如下公式计算所述修刻前第一可修刻电阻的阻值大小RU_bt:
RU_bt=R_bt–RD_bt–RM。
4.如权利要求1所述的电阻式位置传感器输出曲线修刻算法,其特征在于,所述步骤S3包含:
根据如下公式计算该电阻式位置传感器测量范围之间滑动电刷滑动的电阻轨道上的有效阻值Res:
Res=(Ve_bt–Vs_bt)*RM/(Vmax_bt–Vmin_bt)。
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