[发明专利]一种差分接口电路器件测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，特别地，涉及一种差分接口电路器件测试系统。

背景技术

差分接口电路是一种用于信号传输的国际通用接口器件，如RS485总线控制芯片、低压差分信号收发器芯片，差分接口器件在电子系统中有广泛的应用。作为各电子系统内部或系统间的信号传输控制芯片，差分接口类器件的质量直接影响着电子系统信号传输的质量和稳定性，从而影响整个系统的运行。因此差分接口类器件的测试对于保证器件质量，保障电子系统间的信号传输的功能与稳定，为航空航天等重要产业保驾护航具有重大意义。

因其传输差分信号的频率较高和电平特殊，差分接口电路器件的测试长期以来是元器件测试的难点。在现有的测试方法中，若应用数字集成电路测试平台进行测试，其共模电压、差模电压等差分直流参数无法测试，需要配备相应的硬件支持和应用特殊的测试方法，因此差分接口电路一般在模拟集成电路测试平台进行测试。但在这种测试中，因模拟集成电路测试平台的特性，无法对差分接口电路器件的功能和交流参数进行测试，这是差分接口电路测试中的重大缺失，为各型号任务埋下质量隐患。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种差分接口电路器件测试系统。

基于上述目的本发明提供的差分接口电路器件测试系统包括：

适配器，适配器电性连接至待测差分电路与测试平台，适配器为待测差分电路与测试平台之间提供一个通信接口，适配器用于在测试平台的控制下对差分电路进行外围测试，并将外围测试结果反馈到测试平台；

测试平台，测试平台电性连接至适配器，测试平台通过适配器对差分电路进行功能性测试，测试平台用于控制测试平台对差分电路进行外围测试，并对外围测试结果进行进一步分析获得功能与参数测试结果。

其中，适配器包括：

外部控制电路，外部控制电路电性连接至差分电路与外围测试电路，外部控制电路用于在测试平台的控制下向差分电路发送指定形式的检测信号、接收差分电路的输出信号、并将差分电路的输出信号传送到外围测试电路。

外围测试电路，外围测试电路电性连接至外部控制电路与测试平台，外围测试电路用于接收差分电路的输出信号并对差分电路的输出信号进行外围测试，同时将外围测试结果发送到测试平台。

并且，适配器还包括被测差分接口电路，被测差分接口电路电性连接至差分电路；外部控制电路电性连接至差分电路，为外部控制电路通过被测差分接口电路连接至差分电路；外部控制电路用于在测试平台的控制下向差分电路发送指定形式的检测信号，为被测差分接口电路在外部控制电路的直接控制、测试平台的间接控制下，向差分电路发送指定形式的检测信号；外部控制电路用于在测试平台的控制下接收差分电路的输出信号，为被测差分接口电路在外部控制电路的直接控制、测试平台的间接控制下，采集差分电路的输出信号。

同时，外围测试电路包括功能测试外围电路与参数测试外围电路，其中，功能测试外围电路用于测试差分电路的功能指标并获得功能外围测试结果，参数测试外围电路用于测试差分电路的参数指标并获得参数外围测试结果；外围测试结果包括功能外围测试结果与参数外围测试结果。

其中，测试平台包括：

内部控制单元，内部控制单元电性连接至适配器、功能测试单元与参数测试单元，内部控制单元用于接收适配器输出的外围测试结果，从外围测试结果按照指定方法提取出功能外围测试结果与参数外围测试结果，并将功能外围测试结果传送到功能测试单元，将参数外围测试结果传送到参数测试单元；

功能测试单元，功能测试单元电性连接至内部控制单元，功能测试单元用于接收内部控制单元发送的功能外围测试结果，并对功能外围测试结果进行进一步分析获得功能测试结果；

参数测试单元，参数测试单元电性连接至内部控制单元，参数测试单元用于接收内部控制单元发送的参数外围测试结果，并对参数外围测试结果进行进一步分析获得参数测试结果；

应用控制单元，应用控制单元电性连接至适配器，应用控制单元用于控制适配器向差分电路发送指定形式的检测信号并接收差分电路的输出信号。

并且，测试平台还包括测试通道接口单元，被测试通道接口单元电性连接至内部控制单元；内部控制单元电性连接至适配器，为内部控制单元通过测试通道接口单元连接至适配器；

内部控制单元用于接收适配器输出的外围测试结果，为测试通道接口单元在内部控制单元的控制下，接收适配器输出的外围测试结果，并将外围测试结果传送到内部控制单元。