[发明专利]一种平行四边形LED芯片的测试方法有效
| 申请号： | 201510399895.5 | 申请日： | 2015-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN104965163B | 公开（公告）日： | 2018-03-16 |
| 发明（设计）人： | 林潇雄;邱树添;林素慧;彭康伟;许圣贤 | 申请（专利权）人： | 厦门市三安光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 361009 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 平行四边形 led 芯片 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述平行四边形LED芯片包括若干个待测芯片单元，采用至少包括两组探针模块的测试机对所述待测芯片单元进行光电特性测试，其探针模块同时测试至少两个相邻的芯片单元，从而使得测试机在直角坐标系中进行逐行或/和逐列测试时，所述芯片单元的光电特性参数与芯片单元的中心点坐标位置逐一对应。
2.根据权利要求1所述的一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述芯片单元内角为45°或135°。
3.根据权利要求1所述的一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述芯片单元内角为60°或120°。
4.根据权利要求3所述的一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述芯片单元为菱形。
5.根据权利要求1所述的一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述探针模块的组数与其同时测试的芯片单元个数相同。
6.根据权利要求1所述的一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述探针模块的组数为2组或3组或4组以上。
7.根据权利要求1所述的一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述芯片单元的个数为2个或3个或4个以上。
8.根据权利要求1所述的一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述相邻的芯片单元分布为同列或者同行或者其组合。
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