[发明专利]扬声器膜片参数检测方法

说明书

本发明涉及扬声器技术领域，具体涉及一种在对扬声器性能测试中使用的扬声器膜片参数检测方法，包括步骤：在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分；通过输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动；采用激光器收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应的频率Fr；测算出折环部分顺性Cms6的值。本发明的检测方法消除了现有检测方法中干扰因素较多的问题，能够提升膜片参数的检测精准度，且偏差很小。

技术领域

本发明涉及扬声器技术领域，具体涉及一种在对扬声器性能测试中使用的扬声器膜片参数检测方法。

背景技术

扬声器膜片是扬声器的重要零部件，与扬声器声学性能中的F0有直接关系，所以较准确检测方案可以在零部件组装前发现问题，减少成品率损失。产品的谐振频率F0满足：其中，Cms为折环的顺性，由音圈以外的折环部分提供；Mms为振动质量。

现有技术中，在对扬声器膜片折环部分的Cms传统的检测通常采用如下方法：通过把膜片组装成成品，测试成品的F0,反推整个膜片的Cms。此时F0已经确定，由于测试过程中，膜片由折环部分和球顶部分构成，影响膜片的Cms的参数较大，从而测试出来不够精准，导致做出来的产品次品较大，报废量大。

发明内容

本发明的目的是提供一种能够精准测算出膜片折环部分Cms的扬声器膜片参数检测方法。

实现本发明目的的技术方案如下：

扬声器膜片参数检测方法，待测的膜片由折环部分和球顶部分构成，折环部分的顺性记作Cms6，球顶部分的顺性记作Cms7；膜片的质量记作M0；

步骤一，在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分，该随动部分的顺性记作Cms10，随动部分的质量记作M1，其中，随动部分的杨氏模量大于膜片的杨氏模量，随动部分的厚度大于膜片的厚度；随动部分的质量M1是膜片的质量M0的4-20倍；

步骤二，通过输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动；

步骤三，采用激光器收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应的频率Fr；

步骤四，膜片振动最大值对应的频率Fr满足如下条件，

其中，且由于M1+M0的波动接近M1的波动，

从而能够测算出折环部分顺性Cms6的值。

进一步地,为了保证检测的精准性,所述随动部分平铺于球顶部分上表面。