[发明专利]一种特征切片薄互层分析法有效
申请号: | 201510401127.9 | 申请日: | 2015-07-09 |
公开(公告)号: | CN104991275B | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 刘力辉 | 申请(专利权)人: | 北京诺克斯达石油科技有限公司 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司11335 | 代理人: | 王杰 |
地址: | 100096 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 特征 切片 薄互层 分析 | ||
1.一种特征切片薄互层分析法,其特征在于,包括:
步骤1,在地震剖面上提取连续地层切片;
步骤2,对所述连续地层切片进行预处理,利用时窗属性制作1—0蒙版,给定一个门槛值,将砂体河道以外的地震响应振幅值归零,避免特征曲线统计过程中的砂体响应之外的干扰;
步骤3,利用同相法分析出砂体的个数、砂体的展布范围和砂体的叠置关系;
步骤4,在某个确定砂体的展布范围内,利用特征切片零值法确定该砂体的特征切片位置,确定该砂体的视厚度;
步骤5,判断是否为最后一个砂体,如果是最后一个砂体,则进行下一步,如果不是最后一个砂体,则重复上一步骤;
步骤6,利用砂体的特征切片的视厚度计算出所有砂体的真实时间厚度。
2.根据权利要求1所述的特征切片薄互层分析法,其特征在于,步骤3具体包括:
步骤301,相同极性下,某一砂体的地震响应振幅值会出现由弱变强再变弱的规律,在渐变的过程中,找出所述砂体地震响应振幅值最大的切片,在这个切片上确定所述砂体的展布范围;
步骤302,将相邻的上一层砂体和下一层砂体两两依次组合,确定出由步骤3中利用同相法找出的砂体的临近砂体;
步骤303,重复步骤301和步骤302遍历整个连续地层切片,找出所有砂体的个数、砂体的展布范围和砂体的叠置关系。
3.根据权利要求1所述的特征切片薄互层分析法,其特征在于,步骤4具体包括:
步骤401,在某个确定砂体的展布范围内,依次统计砂体地震响应振幅极性反转情况,地震响应振幅极性由负反转至正的个数记为M1,地震响应振幅极性由正到负的个数记为M2,统计相邻切片的极性反转特征量M1-M2,遍历整个连续地层切片,得到极性反转特征曲线;
步骤402,从砂体的极性反转特征曲线上找出两种极性对应的极值位置,即特征切片位置;
步骤403,重复步骤401和步骤402,遍历所有确定的砂体,找出它们的特征切片位置。
4.根据权利要求1所述的特征切片薄互层分析法,其特征在于,步骤6具体包括:
步骤601,每个砂体的两个特征切片对应时间之差是砂体的视厚度,利用实际井位资料计算子波频率,得到视厚度与真实厚度的趋势线,从而计算得到砂体的真实时间厚度;
步骤602,重复步骤601,计算出所有砂体的真实时间厚度。
5.根据权利要求1所述的特征切片薄互层分析法,其特征在于,步骤1提取的连续地震切片为-90度连续地层切片。
6.根据权利要求3所述的特征切片薄互层分析法,其特征在于,步骤401中,地震响应振幅极性由负转正是1,地震响应振幅极性由正转负是-1。
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