[发明专利]一种基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法在审

专利信息
申请号: 201510401144.2 申请日: 2015-07-09
公开(公告)号: CN105002258A 公开(公告)日: 2015-10-28
发明(设计)人: 郭新波;赖沁润;刘瑞海;扶雄 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: C12Q1/02 分类号: C12Q1/02
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 苏运贞
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 细胞 水平 紫外 辐射 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法,其特征在于包含如下步骤:

(1)将HepG2细胞消化后配制成细胞悬浮液,首次培养4~8h后吸出培养基,用PBS清洗;然后将细胞分为对照组、紫外对照组和紫外组,其中,紫外组加入含有待测物的培养基,对照组和紫外对照组加入与紫外组等体积的培养基,第二次培养20~30h后,用紫外线UVC辐照紫外对照组和紫外组细胞,对照组不进行任何辐照;当紫外对照组细胞死亡率为40%~60%时,结束紫外线UVC辐照并用PBS清洗三组细胞,加入培养基,第三次培养20~30h,其中,所述的待测物在培养基中的终浓度为A,为待测物对HepG2细胞无毒性且不具有抗增殖效果的浓度;

(2)检测细胞活性并计算、分析紫外组相对于紫外对照组的相对细胞存活率,如果相对细胞存活率>100%,则终浓度为A的待测物具有抗紫外辐射能力,如果相对细胞存活率=100%,则终浓度为A的待测物不具有抗紫外辐射能力;如果相对细胞存活率<100%,则终浓度为A的待测物具有抗增殖效果。

2.根据权利要求1所述的基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法,其特征在于还包含如下步骤:

(3)采用细胞活性染料对步骤(1)第三次培养后的细胞进行染色,并测定检测波长处的OD值,按照如下公式计算紫外组保护细胞未受损伤百分比:R(%)=(Ad-Au)/(A-Au)×100;其中,R:紫外组保护细胞未受损伤百分比;Ad:紫外组吸光值;Au:紫外对照组吸光值;A:对照组吸光值;然后结合CalcuSyn软件计算细胞修复EC50值。

3.根据权利要求1所述的基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法,其特征在于:

步骤(1)中所述的细胞悬浮液浓度为3.0×105~5.0×105个/mL。

4.根据权利要求1所述的基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法,其特征在于:

步骤(1)中所述的紫外线UVC波长为230nm~275nm;

步骤(1)中所述的紫外线UVC辐照时能量均匀,能量为500000~1000000μJ/cm2

5.根据权利要求1所述的基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法,其特征在于:

步骤(2)中所述的相对细胞存活率通过下述步骤得到:采用细胞活性染料对步骤(1)第三次培养后的细胞进行染色,并测定检测波长处的OD值,按照如下公式计算相对细胞存活率:V(%)=Ad/Au×100%;其中,V:相对细胞存活率,Ad:紫外组吸光值,Au:紫外对照组吸光值。

6.根据权利要求1所述的基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法,其特征在于:

步骤(1)中所述的待测物对HepG2细胞无毒性且不具有抗增殖效果的浓度通过如下步骤获得:

①将HepG2细胞消化后配制成细胞悬浮液,首次培养20~30h后吸出培养基,加入PBS清洗;然后将细胞分为对照组和毒性组,其中,毒性组加入含有不同浓度待测物的培养基,对照组加入与毒性组等体积的培养基,第二次培养20~30h后,检测细胞活性并计算、分析毒性组相对于对照组的细胞生长抑制率,当细胞生长抑制率不大于20%时,表明该浓度的待测物对细胞无毒性,得到待测物的安全浓度;

②将HepG2细胞消化后配制成细胞悬浮液,首次培养4~8h后吸出培养基,用PBS清洗;然后将细胞分为对照组和增殖组,其中,增殖组加入含有不同浓度待测物的培养基,待测物在培养基中的终浓度不高于待测物的最大安全浓度;对照组加入与增殖组等体积的培养基,第二次培养48~72h后,检测细胞活性并计算、分析增殖组相对于对照组的细胞相对增殖率,当细胞相对增值率不小于80%时,表明该浓度的待测物对细胞不具有抗增殖效果,得到待测物不具有抗增殖效果的浓度,即为待测物对HepG2细胞无毒性且不具有抗增殖效果的浓度。

7.根据权利要求6所述的基于细胞水平的抗紫外辐射评价方法,其特征在于:

步骤①中所述的细胞悬浮液的细胞浓度为3.0×105~5.0×105个/mL。

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