[发明专利]一种有机半导体元件结构与其制作方法在审

专利信息
申请号: 201510401205.5 申请日: 2015-07-10
公开(公告)号: CN105161620A 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 高启仁;王怡凯;胡堂祥 申请(专利权)人: 广州奥翼电子科技有限公司
主分类号: H01L51/10 分类号: H01L51/10;H01L51/40;H01L51/44;H01L51/48;H01L51/52;H01L51/56
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 王会龙
地址: 511458 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 有机半导体 元件 结构 与其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种有机半导体元件结构,包括基板,形成在基板上的源极电极、漏极电极、栅极电极;其特征在于:在所述源极电极、漏极电极上设置有保护层,所述保护层上设置有机半导体层,所述保护层和有机半导体层完全覆盖所述源极电极和漏极电极,在所述栅极电极与源极电极、漏极电极之间设置有栅极绝缘层。

2.如权利要求1所述的有机半导体元件结构,其特征在于:所述保护层为介电层材料图形化形成的保护层。

3.如权利要求1所述的有机半导体元件结构,其特征在于:所述保护层为涂布形成的保护层,或/和所述栅极绝缘层为涂布形成的栅极绝缘层。

4.如权利要求1所述的有机半导体元件结构,其特征在于:所述源极电极、漏极电极、栅极电极为黄光、印制或喷印制程形成。

5.如权利要求1所述的有机半导体元件结构,其特征在于:所述栅极绝缘层为有机介电层材料的栅极绝缘层。

6.一种有机半导体元件结构的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

一、准备基板;

二、在基板上形成源极电极和漏极电极;

三、在源极电极和漏极电极上涂布介电层材料;

四、利用制程将介电层材料图形化形成保护层;

五、成长有机半导体层,所述保护层和有机半导体层完全覆盖所述源极电极和漏极电极;

六、利用氧离子蚀刻将有机半导体层图形化;

七、成长栅极绝缘层;

八、在栅极绝缘层上形成栅极电极。

7.一种有机半导体元件结构的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

一、准备基板;

二、在基板上形成栅极电极;

三、成长栅极绝缘层;

四、在栅极绝缘层上形成源极电极和漏极电极;

五、在源极电极和漏极电极上涂布介电层材料;

六、利用制程将介电层材料图形化形成保护层;

七、成长有机半导体层,所述保护层和有机半导体层完全覆盖所述源极电极和漏极电极;

八、利用氧离子蚀刻将有机半导体层图形化。

8.如权利要求6或7所述的有机半导体元件结构的制作方法,其特征在于,所述源极电极、漏极电极和栅极电极采用黄光、印制或喷印制程形成。

9.如权利要求6或7所述的有机半导体元件结构的制作方法,其特征在于,所述介电层材料为有机或无机的介电层材料。

10.如权利要求6或7所述的有机半导体元件结构的制作方法,其特征在于,所述栅极绝缘层为有机介电层材料。

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