[发明专利]阵列角反射器指向精度测量系统及方法

权利要求书

1.阵列角反射器指向精度测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

1)搭建阵列角反射器指向精度测量系统；

所述阵列角反射器指向精度测量系统包括光源、星点板、平行光管、半透半反平面镜、缩束镜头、滤光片、CCD相机以及PC机，

所述光源经过星点板、平行光管发出平行光，平行光垂直入射半透半反平面镜，待测阵列角反射器位于半透半反平面镜的反射光路上，半透半反平面镜的透射光路上依次摆放有缩束镜头、滤光片以及CCD组件，所述CCD组件与PC机连接；所述光源为白炽灯；所述星点板放置在平行光管的焦面位置；所述星点板的中心孔直径为0.01mm-0.05mm；所述半透半反平面镜的与水平面的夹角为45°；

2)光源经过星点板及平行光管产生平行光，入射半透半反平面镜；

3)经半透半反平面镜反射至待测阵列角反射器，待测阵列角反射器接收星点像；

4)待测阵列角反射器将星点像反射后透过半透半反平面镜进入缩束镜头，然后经过滤光片聚焦在CCD组件的靶面上；

5)通过PC机的屏幕观察不同角反射器反射的星点像成像位置，测量指向精度：

如果PC机屏幕上成的像为一个星点像，则阵列角反射器所有的角反射器的指向一致；

如果PC机屏幕上成的像为多个星点像，则阵列角反射器所有的角反射器的指向不一致；步骤1)中所搭建系统的半透半反平面镜处于45°角位置，具体确定方法包括以下步骤为：

a利用五棱镜工作原理建立第一经纬仪和第二经纬仪的位置夹角90°基准：

将第一经纬仪放置在五棱镜的入射面位置，将第二经纬仪放置在五棱镜出射面位置，通过第一经纬仪的十字分划板观察第二经纬仪的像面十字分划板，保证两个分划板十字中心重合，建立两个经纬仪的90°基准；

b确定半透半反平面镜位置：

将步骤a中的五棱镜更换为半透半反平面镜，通过第一经纬仪、半透半反平面镜观察第二经纬仪的十字分划板，调整半透半反平面镜位置，直到两个经纬仪的十字分划板中心重合，此时半透半反平面镜45°的位置确定。

2.根据权利要求1所述的阵列角反射器指向精度测量方法，其特征在于：步骤1)中所搭建系统的待测阵列角反射器位置确定包括以下步骤为：

将上述步骤b中的第一经纬仪的位置处放置待测阵列角反射器，调整待测阵列角反射器的位置，直到在第二经纬仪上能观察到阵列角反射器反射回来的自准直像和第二经纬仪的十字分化板十字中心重合，阵列角反射器的位置确定。

3.根据权利要求2所述的阵列角反射器指向精度测量方法，其特征在于：步骤1)中所搭建系统的平行光管位置确定方法包括以下步骤为：

首先，将平行光管放置在半透半反平面镜的与待测阵列角反射器垂直的反射光路上，并在平行光管的后端安装自准直望远镜；

然后，通过自准直望远镜观察通过半透半反平面镜和待测阵列角反射器反射回来的自准直十字像，保证自准直像十字像和自准直望远镜的分化十字像完全重合平行光管的位置确定。