[发明专利]大口径单轴晶体光吸收系数测量装置及方法

说明书

技术领域

本发明属光学领域，涉及一种晶体光吸收系数测量装置及其方法，尤其涉及一种晶体光轴方向与光束传播方向满足相位匹配角下，大口径单轴晶体P光和S光吸收系数测量装置及其方法。

背景技术

随着我国神光Ⅲ主机装置的建设，大口径单轴晶体在惯性约束聚变系统中作为频率转换元件，对系统最终输出能量起着至关重要的影响。尤其是大口径KDP晶体，它是大功率激光器中倍频器件和电光开关的关键材料，其材料质量和元件加工质量都很大程度影响装置最终指标的实现。大口径单轴晶体吸收系数，作为其关键指标，直接影响晶体的频率转换效率。为达到较高的转换效率，晶体光轴方向与光束传播方向必须满足一定的角度，即相位匹配角。由于晶体属于各向异性介质，即对沿不同方向偏振的光波具有不同的传播性质。研究晶体光轴方向与光束传播方向满足相位匹配角下，大口径单轴晶体对P光(偏振方向与光传播方向垂直)和S光(偏振方向与光传播方向平行)的吸收系数，从而对总体估计激光输出能量及频率转换效率具有重要的指导意义和应用价值。

沈华等人提出了一种晶体材料光吸收系数的测量方法(专利号：ZL201110254195.9)。此方法为通过高功率的抽运光入射到晶体表面，使其产生热形变，然后利用激光干涉仪发射出一个标准平面波其通过被抽运激光作用的晶体表面后，平面反射镜将标准平面波按原路反射回来，这时干涉仪接收到是携带有两次晶体表面形貌信息的波阵面，利用相位解包算法算出因抽运光的照射引起的晶体表面形变量，通过公式算出晶体材料的光吸收系数。但该方法受限于激光干涉仪出射光的偏振态，无法实现入射光束传播方向与晶体光轴满足相位匹配角下，大口径单轴晶体对P光和S光的吸收系数测量。

杨学志等人在中华人民共和国机械行业标准中发表了一种光学晶体光吸收系数测量方法，该方法要求光束垂直入射光学晶体，其无法实现晶体实际使用工作状态(实现入射光束传播方向与晶体光轴满足相位匹配角)下，材料吸收系数的测量。同时此方法也无法实现晶体对P光和S光的吸收系数测量。该方法测量精度不高，无法满足现代晶体材料吸收系数测量的需求。

发明内容

为了解决背景技术中存在的问题，本发明提出了一种大口径单轴晶体吸收系数测量装置及其方法，此装置及其方法通过对待测大口径单轴晶体二维扫描，实现入射光束传播方向与晶体光轴满足相位匹配角下，大口径单轴晶体P光和S光的吸收系数测量，不受激光功率不稳定性、入射光束指向性和背景环境的杂散光影响，并很好的保证测量精度。

本发明采用的技术解决方案是：

本发明提供了一种大口径单轴晶体光吸收系数测量装置，其特殊之处在于：所述大口径单轴晶体光吸收系数测量装置包括激光器、准直镜、起偏器、第一半透半反镜、第一会聚镜、监视积分球功率计、待测大口径单轴晶体、第二半透半反镜、第二会聚镜、监视CCD、第三会聚镜、测量积分球功率计以及计算机；所述准直镜、起偏器以及第一半透半反镜依次设置在激光器的出射光所在光路上；所述第一半透半反镜将入射至第一半透半反镜的光反射形成第一反射光以及透射形成第一透射光；所述第一会聚镜设置在第一反射光所在光路上并将第一反射光会聚至监视积分球功率计中；所述第二半透半反镜设置在第一透射光所在光路上并将第一透射光反射形成第二反射光以及透射形成第二透射光；所述第二会聚镜设置在第二反射光所在光路上并将第二反射光会聚至监视CCD中；所述第三会聚镜设置在第二透射光所在光路上并将第二透射光会聚至测量积分球功率计中；待测大口径单轴晶体置于第一半透半反镜以及第二半透半反镜之间；所述计算机分别与待测大口径单轴晶体、监视积分球功率计、监视CCD以及测量积分球功率计相连。

上述大口径单轴晶体光吸收系数测量装置还包括二维扫描机构，所述待测大口径单轴晶体固定在二维扫描机构上；所述计算机与二维扫描机构相连并通过二维扫描机构带动待测大口径单轴晶体实现二维运动。

上述大口径单轴晶体光吸收系数测量装置还包括用于驱动起偏器旋转的驱动器；所述计算机与驱动器相连并通过驱动器带动起偏器旋转。

一种基于如上述的大口径单轴晶体光吸收系数测量装置的测量方法，其特殊之处在于：所述方法包括以下步骤：

1)激光器输出单模发散的圆偏振光，经准直镜输出准直圆偏振光，再通过起偏器将准直圆偏振光起偏为P光；