[发明专利]一种具有替换行或列的MRAM芯片及替换、读写方法在审
申请号: | 201510405588.3 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN105609129A | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 戴瑾 | 申请(专利权)人: | 上海磁宇信息科技有限公司 |
主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16 |
代理公司: | 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 | 代理人: | 于晓菁 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 替换 mram 芯片 读写 方法 | ||
1.一种MRAM芯片,包括一个或多个由MRAM存储单元组成的阵列,每个阵列与控 制电路连接,所述控制电路包括行地址解码器、列地址解码器、读写控制器以及输 入输出控制,其特征在于,每个所述阵列包括多个替换行或列,所述替换行或列用 于替换具有坏MRAM存储单元的行或列。
2.如权利要求1所述的MRAM芯片,其特征在于,每个所述替换行或列包括非易失 的地址寄存器,用于存储被替换行或列的地址。
3.如权利要求1所述的MRAM芯片,其特征在于,所述地址寄存器的位数取决于每 个阵列中的MRAM存储单元的行数或列数。
4.一种如权利要求1-3任一项所述的MRAM芯片的替换方法,其特征在于,所述替 换方法包括以下步骤:
(1)MRAM芯片的自测试电路对MRAM芯片的每一行或列进行读写测试;
(2)如果发现一个坏存储单元,所述坏存储单元所在的行或列标定为坏行或坏列, 选择一个未使用的替换行或列,将所述坏行或坏列的地址写入选中的替换行或列的 地址寄存器。
5.一种如权利要求1-3任一项所述的MRAM芯片的读写方法,MRAM阵列具有替换 行,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
(1)收到读写操作的地址,将所述地址发给行地址解码器、列地址解码器以及所 有替换行;
(2)如果所述地址对应的行标定为坏行,地址寄存器中存储的地址与所述地址对 应的行的地址相同的替换行打开,进行读写操作,并禁止所述行地址解码器打开所 述地址对应的行。
6.如权利要求5所述的MRAM芯片的读写方法,其特征在于,步骤(2)包括以下 步骤:
(21)替换行比较行地址与所述替换行的地址寄存器中存储的地址;
(22)如果二者相同,打开所述替换行;
(23)将行地址解码器的使能位置0。
7.一种如权利要求1-3任一项所述的MRAM芯片的读写方法,MRAM阵列具有替换 列,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
(1)收到读写操作的地址,将所述地址发给行地址解码器、列地址解码器以及所 有替换列;
(2)如果所述地址对应的列标定为坏列,地址寄存器中存储的地址与所述地址对 应的列的地址相同的替换列打开,进行读写操作,并禁止所述列地址解码器打开所 述地址对应的列。
8.如权利要求7所述的MRAM芯片的读写方法,其特征在于,步骤(2)包括以下 步骤:
(21)替换列比较列地址与所述替换列的地址寄存器中存储的地址;
(22)如果二者相同,打开所述替换列;
(23)将列地址解码器的使能位置0。
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