[发明专利]电子装置的抗干扰检测系统及其测试天线在审

专利信息
申请号: 201510408476.3 申请日: 2015-07-13
公开(公告)号: CN106646002A 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 王晓谦 申请(专利权)人: 程智科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 贾磊
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电子 装置 抗干扰 检测 系统 及其 测试 天线
【说明书】:

技术领域

发明是一种检测系统及其天线,尤指一种电子装置的抗干扰检测系统及其测试天线。

背景技术

现有的电子装置在使用时会产生电磁波,且各个电子装置产生的电磁波会互相干扰,举例来说,当手机放在电脑喇叭附近时,喇叭常常会出现噪声,而此噪声即是由该手机在接收信号或发射信号时产生的电磁波所造成。若电子装置的抗干扰能力不足,势必会影响到使用者的使用,例如在使用时,喇叭产生噪声,或是显示画面产生噪点等。而使用者在购买到抗干扰能力不足的电子装置时,会因为噪声或噪点认为电子装置出问题要求更换,或认为购买到瑕疵的电子装置要求退货。

无论是退货或是更换,对于贩售该电子装置的商家而言,皆会增加商家的后续维修成本,因此该商家在量产该电子装置时,会先对该电子装置的试作产品进行抗干扰测试,检视该电子装置的抗干扰能力,藉以增加该电子装置的品管品质后再开始量产,减少使用者购买后退换货的机会,进而减少后续维修成本。

现有技术对该电子装置进行抗干扰测试的方式是以日常使用来检测是否会受到其他电子装置的干扰。举例来说,该电子装置是一笔记本电脑,当正常使用下,将该笔记本电脑放置于桌上,并使用该笔记本电脑播放影片或音乐,同时,测试人员拿出手机、平板或其他电子装置来使用,并仔细观察该电子装置是否有产生噪声或噪点。或是由该测试人员将该笔记本电脑带回家使用,如同一般使用者般于日常生活中使用该笔记本电脑,并观察该笔记本电脑是否会受到环境中的电磁波而产生噪声或噪点,藉此来测试该电子装置在日常生活中的抗干扰能力。

但每个人的使用该电子装置的习惯不同,且使用该电子装置的环境不同,所遭遇的电磁波状况也有所不同,仅通过该测试人员以特定的其他电子装置测试是否会干扰,仍有可能在其他使用者在使用不同的其他电子装置时,该电子装置受到干扰。举 例来说,该电子装置为一电脑,其他电子装置为一手机,而测试人员直接以该手机放在该电脑四周使用,并观察该电脑是否有噪声或噪声产生。但该手机的使用状况不同时,产生的干扰不同,即便当使用该手机持续通话,也会因为连线信号的强弱,产生不同干扰,而测试人员并无法固定该手机产生的干扰强度,无法得知若干扰强度增加,会不会影响到该电脑。因此,现有由测试人员以日常使用的测试方式仍有所不足。

发明内容

有鉴于现有由测试人员以日常使用的测试方式仍有所不足的缺点,本发明的主要目的是提供一种电子装置的抗干扰检测系统及其测试天线,以测量该电子装置的抗干扰能力。

为达上述目的,本发明的电子装置的抗干扰检测系统包含有:

一信号产生器,产生一测试信号;

一功率放大器,电连接至该信号产生器,接收并放大该测试信号的功率后输出;及

一测试天线,电连接至该功率放大器,接收并将该功率放大后的测试信号转换成电磁波输出。

此外,该测试天线包含有:

一电路基板,具有一第一表面;

一天线本体,设置于该电路基板的第一表面,且具有相对的一第一边及一第三边及相对的一第二边及一第四边;其中该第一边具有一等腰三角型缺口,该第二、第四边分别具有一第一长方形缺口,该第三边具有一第二长方形缺口;该等腰三角型的顶角面向该本体的中心;及

一金属连接体,设置于该电路基板的第一表面,且连接至该本体第三边的第二长方型缺口中。

本发明电子装置的抗干扰检测系统将该信号产生器模拟为一可产生电磁波信号的噪点源,且通过该测试天线发射出去,接着再以该测试天线直接扫过该电子装置四周,来测试该电子装置的抗干扰能力。且该测试信号是由该信号产生器产生,能令该测试天线发射固定能量的电磁波场墙,并通过调整该信号产生器即可令该测试信号模拟各种状况下的电磁波信号,藉此固定及调整该测试天线发出的电磁波信号强度,达 到方便测试人员检测的目的。而一测试人员在以该测试天线扫过该电子装置四周时,同时观察该电子装置使否产生噪点或是噪声,藉此来检测该电子装置的抗干扰能力,供该电子产品的制作商家在试作产品的阶段即早了解该电子装置的抗干扰能力,并决定是否开始量产,进而减少后续的维修成本。

附图说明

图1是本发明较佳实施例的系统方块图。

图2是本发明测试天线较佳实施例的平面示意图。

图3是本发明测试天线较佳实施例的部分分解示意图。

图4是本发明测试天线第一较佳实施例的反射损耗的频率响应图。

图5是本发明测试天线第一较佳实施例XY平面的二维场型图。

图6是本发明测试天线第一较佳实施例XZ平面的二维场型图。

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