[发明专利]一种气流筛选装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种外观检测设备，尤其涉及一种气流筛选装置。

背景技术

电容器作为常用的电子产品，大量应用于各类的电子产品上，尤其是电路板上。本发明适用检测的电容为圆柱体结构的壳体，壳体外壁一般采用铝壳材质，在圆柱体一端设有两个针状的导针。在对上述结构的电容进行外观检测时，需要全方位检测电容表面的缺陷，缺陷包括：捺印不良、壳壁上有油墨残留、铝壳发黄、导针变色、胶盖发黄等12种不良。

在检测过程中需要实现的是：对电容的侧周，电容的两端部以及导针进行全面无死角的检测，这个过程中自然涉及到对每个电容空间位置的变换：如让其实现翻转，自转等动作。

发明内容

本发明克服了现有技术的不足，提供一种气流筛除预定位置不良品电容产品的气流筛选装置。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案为：一种气流筛选装置，包括，槽块，以及分别设置在所述槽块两侧的气孔块和次品仓，其特征在于，所述槽块上表面设有若干个弧形槽，所述气孔块上上设有若干个气孔，每个弧形槽均与所述气孔块上的至少一个气孔位置对应，所述气孔连通气压装置。

本发明一个较佳实施例中，所述气孔块两侧各对称的设有一个槽块，所述气孔块的两个侧面均设有若干个气孔。

本发明一个较佳实施例中，每个所述槽块外侧还设有一个夹持机构，所述夹持机构设置在导轨上。

本发明一个较佳实施例中，所述夹持机构通过导轨衔接槽块和一个良品仓。

本发明一个较佳实施例中，所述夹持机构带有两个夹指，两个所述夹指由开合气缸驱动开合。

本发明一个较佳实施例中，所述筛选装置底部设有次品仓，所述次品仓的两个上开口分别设置在两个所述槽块外侧的下方。

本发明一个较佳实施例中，所述次品仓包括上仓和下仓，所述下仓底面倾斜设置，并在最底端设有下开口，所述下仓位于所述下开口下方。

本发明一个较佳实施例中，每个所述气孔均对应的设有一个阀体。

本发明一个较佳实施例中，所述弧形槽结构与圆柱形的侧面结构吻合，所述气孔连接气压装置。

本发明解决了背景技术中存在的缺陷，本发明具备以下有益效果：

(1)设置左右对称的两槽块，可以极大的节约设备空间，同时有些装置部件可以实现两套机构共用同一个，节约资源；并且在分批筛选电容过程中，可以实现两套机构上的各一批电容同时筛选；

(2)夹持机构在轨道上往复移动，可以实现相邻批次的电容逐批移动；

(3)筛选装置通过弧形槽和气孔的配合结构，在经过CCD相机进行检测后，需要被剔除的次品便会被其对应位置的一个气孔吹气，吹落入次品仓内；

(4)次品仓设置两个上开口，以及倾斜的底面，并且在底面下部设置下开口，这样两个上开口落下的次品电容，均可以汇集到下开口，然后进入下仓；

(5)筛选装置对应设置夹持机构，均可以实现夹持导针对电容进行移动；

(6)筛选机构对应的夹持机构可以将筛选结构剩下的合格电容夹持放入良品仓内。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的优选实施例的立体结构图；

图2是本发明的优选实施例的不带良品仓的立体结构图一；

图3是本发明的优选实施例的不带良品仓的立体结构图二；

图中：16、槽块，17、弧形槽，18、气孔块，20、次品仓，21、上仓，22、上开口，23、下开口，24、下仓，25、夹持机构，26、夹指，27、开合气缸，28、良品仓，34、架体，35、壳体，36、导针，37、导轨。

具体实施方式

现在结合附图和实施例对本发明作进一步详细的说明，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。

如图1、图2、图3所示，一种气流筛选装置，包括，槽块16，以及分别设置在槽块16两侧的气孔块18和次品仓20，槽块16上表面设有若干个弧形槽17，气孔块18上上设有若干个气孔(未图示)，每个弧形槽17均与气孔块18上的至少一个气孔位置对应，气孔连通气压装置。

本发明的一个优选实施例中，每个槽块16上设有5个弧形槽17。

上仓21固定在架体34上，架体34上设有腰型槽，上仓21通过腰型槽上下移动的固定在架体34上。

夹持机构25在轨道上往复移动，可以实现相邻批次的电容逐批移动；筛选机构对应的夹持机构25可以将筛选结构剩下的合格电容夹持放入良品仓28内。