[发明专利]一种晶体管的评估方法

权利要求书

1.一种晶体管的评估方法，其特征在于，包括：

将周期为T的第一脉冲信号施加在所述晶体管的第一端；

在经过至少n个周期之后，对所述晶体管进行电性能测试，以获得第一参数，其中，n为大于或等于1的正整数；

根据对所述晶体管的初始参数和所述第一参数进行比较，以评估所述晶体管的可靠性；

将周期为T的第二脉冲信号施加在所述晶体管的第二端；

在经过至少n个周期之后，对所述晶体管进行电性能测试，以获得第二参数，其中，n为大于或等于1的正整数；

根据对所述晶体管的初始参数和所述第二参数进行比较，以评估所述晶体管的可靠性；

其中，所述晶体管的第一端为所述晶体管的栅极，所述晶体管的第二端为所述晶体管的漏极；或者，所述晶体管的第一端为所述晶体管的漏极，所述晶体管的第二端为所述晶体管的栅极。

2.根据权利要求1所述的评估方法，其特征在于，所述T的周期宽度为脉冲宽度T1和空白宽度T2。

3.根据权利要求2所述的评估方法，其特征在于，所述T的周期宽度还包括上升沿宽度T3和下降沿宽度T4。

4.根据权利要求3所述的评估方法，其特征在于，所述脉冲宽度T1和所述空白宽度T2相同；所述上升沿宽度T3和所述下降沿宽度T4相同。

5.根据权利要求1所述的评估方法，其特征在于，所述n具体为：规定的标准晶体管在使用寿命期间进行开/断的总次数。