[发明专利]一种基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法有效
申请号: | 201510429931.8 | 申请日: | 2015-07-21 |
公开(公告)号: | CN105043737B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 李济顺;马喜强;赵振旗;薛玉君;杨芳;隋新;余永健;刘春阳;司东宏;马伟;李占立;陈振强;周元坤;司卓一 | 申请(专利权)人: | 河南科技大学 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司41119 | 代理人: | 胡泳棋 |
地址: | 471003 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 误差 分离 技术 轴承 保持 运动 轨迹 测量方法 | ||
1.一种基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)测量保持架径向平面内保持架轴心沿X和Y方向上的平移分量dX、dY;
2)根据保持架半径R及平移分量dX、dY,计算保持架在X、Y方向上的平移自由度x、y;
3)设置位移传感器,并记录位移传感器在X-Y坐标系中的位置(xAm,yAm)、传感器测量值dAm,采用误差分离技术分离出保持架端面形貌误差δ(θm),其中,m表示传感器的编号,θm为从轴心到传感器测量点方向与X轴方向的夹角;
4)根据步骤3)中的位移传感器位置(xAm,yAm)、传感器测量值dAm及保持架端面形貌误差δ(θm),计算出保持架绕X和Y轴的旋转自由度i、j和沿轴向攒动的自由度z;
其中,p0=θ0*N/2π,p1=θ1*N/2π,p2=θ2*N/2π,N是一周采样点总个数,k=0…N-1;
5)根据x、y、z、i、j这五个自由度得到保持架的运动轨迹。
2.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤2)中保持架在X、Y方向上的平移自由度x、y的计算公式为:
3.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤1)中在保持架径向平面内布置两个用于测量dX和dY的位移传感器,该位移传感器发出的光线相互垂直相交,交点位于保持架轴线上。
4.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤3)中设置了四个位移传感器,四个位移传感器构成的平面与保持架端面平行,且四个位移传感器发出的光线与保持架轴线平行,且落在保持架上。
5.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述保持架端面形貌误差δ(θm)的计算公式如下:
其中,k=0…N-1为θm的离散值,Δ(n)=D(n)/G(n),n=0…N-1,D(n)=C0δ(p0)+C1δ(p1)+C2δ(p2)+C3δ(p3),C0、C1、C2、C3为加权系数,且C0、C1、C2、C3满足以下条件:
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