[发明专利]一种非接触式激光测径仪及其测试方法在审
申请号: | 201510431884.0 | 申请日: | 2015-07-22 |
公开(公告)号: | CN105066891A | 公开(公告)日: | 2015-11-18 |
发明(设计)人: | 何邦贵;杨智皓;田倩如 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650093 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 激光 测径仪 及其 测试 方法 | ||
1.一种非接触式激光测径仪,其特征在于:包括半导体激光发射器(1)、电机(2)、八棱镜(3)、半平面透镜Ⅰ(4)、滤棒通道(5)、半平面透镜Ⅱ(6)、光电接收器(7);所述滤棒通道(5)周围安装有四组光电测径传感器,四组光电测径传感器的结构均相同,其中每一组光电测径传感器均包括半导体激光发射器(1)、电机(2)、八棱镜(3)、半平面透镜Ⅰ(4)、半平面透镜Ⅱ(6)、光电接收器(7);所述电机(2)与八棱镜(3)相连带动八棱镜(3)转动,半导体激光发射器(1)发射的激光直射到转动的八棱镜(3)上,八棱镜(3)再把激光折射到半平面透镜Ⅰ(4)上通过半平面透镜Ⅰ(4)形成一组平行光平行的直射过滤棒通道(5)照射到半平面透镜Ⅱ(6)上,穿过半平面透镜Ⅱ(6)的光被光电接收器(7)接收,通过光电接收器(7)将接收到的光信号转化成数字信号。
2.根据权利要求1所述的非接触式激光测径仪,其特征在于:所述非接触式激光测径仪还包括测径仪机壁(9),所述半导体激光发射器(1)、电机(2)、八棱镜(3)、半平面透镜Ⅰ(4)、被测滤棒(5)、半平面透镜Ⅱ(6)、光电接收器(7)均设置在测径仪机壁(9)内,测径仪机壁(9)上设置有导向孔(10)、清洁喷嘴(11);所述导向孔(10)正对着滤棒通道(5)。
3.根据权利要求1所述的非接触式激光测径仪,其特征在于:所述滤棒通道(5)周围安装有四组光电测径传感器,且四组光电测径传感器分别与水平面成90°、135°、180°、225°安装,且所述四组电机(2)、八棱镜(3)也分别与水平面成90°、135°、180°、225°安装于测径仪机壁(9)上。
4.权利要求1到3任一项所述的非接触式激光测径仪的测试方法,其特征在于:所述测试方法的具体步骤为:
Step1、首先被测滤棒(12)穿过滤棒通道(5)时;其中一组光电测径传感器的半导体激光发射器(1)发出激光光束,经八棱镜(3)折射的激光束通过半平面透镜Ⅰ(4)转换为平行光并通过滤棒通道(5),当滤棒通道(5)中有被测滤棒(12)时,被测滤棒(12)会遮挡部分平行光,没被遮挡的平行光经半平面透镜Ⅱ(6)汇聚在光电接收器(7)上;
Step2、被被测滤棒(12)遮挡的平行光经光电接收器(7)转换成低电平;没有被被测滤棒(12)遮挡的平行光则转换为高电平;
Step3、通过记录光电接收器(7)接收到低电平信号存在的时间t,再通过电机(2)的转速ω×八棱镜(3)的内切圆半径r计算出穿过半平面透镜Ⅰ(4)的平行光扫描被测滤棒(12)的速度为v,v=ω×r,最后通过公式D1=v×t求出被测滤棒(12)的外径值D1;
Step4、同时另外三组光电测径传感器测量出其余三个外径值D2、D3、D4;
Step5、通过D1、D2、D3、D4求出外径的平均值再利用圆周公式求出被测滤棒(12)的圆周值。
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