[发明专利]质量分离器、质量选择检测器、以及优化质量分离的方法

权利要求书

1.一种质量分离器，包括至少一个电极部件，所述电极部件具有在所述分离器内操作地对准的表面，所述表面在一个横截面上限定经由至少一个上升部而相关联的至少两个伸展部，所述上升部正交地连接到所述伸展部，其中所述至少两个伸展部包括2mm到3.5mm之间的第一伸展部、以及5.5mm到7.5mm之间的第二伸展部。

2.权利要求1所述的分离器，其中所述表面在所述一个横截面上进一步限定从所述伸展部中的至少一个延伸的另一上升部。

3.权利要求2所述的分离器，其中所述表面在所述一个横截面上进一步限定由所述上升部中的至少两个和伸展部组成的基座。

4.权利要求1所述的分离器，其中所述表面在所述一个横截面上限定相对的上升部和伸展部。

5.权利要求4所述的分离器，其中所述相对的上升部和伸展部在所述电极的表面上限定基座。

6.权利要求1所述的分离器，其中所述表面在所述一个横截面上限定在所述至少一个上升部内的开口，所述开口延伸穿过所述电极部件至所述电极部件的相对的表面。

7.一种质量选择检测器，其包括至少第一对相对的电极，所述相对的电极中的每个具有互补的表面，所述表面在一个横截面上限定经由上升部而相关联的至少两个伸展部，所述上升部正交地连接到所述伸展部，其中所述至少两个伸展部包括2mm到3.5mm之间的第一伸展部、以及5.5mm到7.5mm之间的第二伸展部。

8.根据权利要求7所述的质量选择检测器，还包括第二对相对的电极，所述第一对的每一个与所述第二对相邻并且正交。

9.根据权利要求8所述的质量选择检测器，其中所述检测器的电极中的至少一个限定在所述电极的相对的表面之间延伸的开口。

10.根据权利要求7所述的质量选择检测器，其中所述检测器的电极中的至少一个限定在所述电极的相对的表面之间延伸的开口。

11.根据权利要求7所述的质量选择检测器，其中所述检测器的两个相对的电极二者都限定在每个单独电极的相对的表面之间延伸的互补的开口。

12.根据权利要求7所述的质量选择检测器，其中所述第一对电极被配置作为线性离子阱的电极。

13.根据权利要求7所述的质量选择检测器，其中所述第一对电极经由相对的端盖而关于彼此固定。

14.根据权利要求13所述的质量选择检测器，其中所述相对的端盖中的每个限定开口，所述端盖的开口彼此对准。

15.一种用于优化质量选择检测器内的质量分离的方法，所述方法包括：

提供质量分离参数；

在分离器内提供一组电极，所述一组电极具有在所述分离器内操作地对准的表面，所述表面在一个横截面上限定经由上升部而相关联的至少两个伸展部，所述上升部正交地连接到所述伸展部，其中所述至少两个伸展部包括2mm到3.5mm之间的第一伸展部、以及5.5mm到7.5mm之间的第二伸展部；并且

修正所述上升部和/或伸展部中的一个或两个以获得所述质量分离参数。

16.根据权利要求15所述的方法，其中所述质量分离参数包括由所述一组电极在被操作地接合时所提供的电场。

17.根据权利要求15所述的方法，其中所述质量分离器被配置作为线性离子阱，并且所述一组电极是所述阱的一组电极。

18.根据权利要求15所述的方法，还包括在所述检测器内将所述一组电极提供至固定取向，所述方法还包括，将所述一组电极从所述固定取向上移除、并用另一组电极替换所述一组电极，所述另一组电极与所述一组电极具有不同的上升部和/或伸展部配置。