[发明专利]一种基于炮检距向量片技术优化观测系统的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510440958.7 申请日: 2015-07-24
公开(公告)号: CN105093299B 公开(公告)日: 2017-11-10
发明(设计)人: 吴永国;宁宏晓;陈国文;章多荣;王雷 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 党晓林
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 炮检距 向量 技术 优化 观测 系统 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于炮检距向量片技术优化观测系统的方法,其特征在于,包括:

获取目标区域中多个观测系统所对应的炮检距向量片OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度;

将所述多个观测系统各自所对应的分布均匀度分别与预设阈值进行对比,根据对比结果确定出一个适用于所述目标区域的观测系统,

其中,所述根据对比结果确定出一个适用于所述目标区域的观测系统包括:

在对比出m个观测系统中存在有k个观测系统所对应的OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度与所述预设阈值之间的差值均相同时,计算所述k个观测系统各自所对应的勘探成本,其中,m为观测系统的总个数,k和m均为正整数,并且k小于或等于m;

将所得到的k个勘探成本各自分别进行对比;

将勘探成本最小的观测系统确定为适用于所述目标区域的观测系统。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取目标区域中多个观测系统所对应的炮检距向量片OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度包括:

依次对每个观测系统进行OVT单元划分;

依次获取每个观测系统中OVT单元所对应的OVT道集;

依次利用每个观测系统所对应的OVT道集,计算每个观测系统所对应的OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对每个观测系统进行OVT单元划分包括:

对预设的观测系统进行观测系统参数检验;

根据检验结果判断是否需要对预设的观测系统进行初步优化;

在判断需要对预设的观测系统进行初步优化时,对预设的观测系统进行初步优化;

对初步优化的观测系统进行OVT单元划分。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取目标区域中多个观测系统所对应的炮检距向量片OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度包括:

对所述多个观测系统中的第一观测系统进行OVT单元划分;

获取所述第一观测系统中OVT单元所对应的OVT道集;

按照获取第一观测系统所对应的OVT道集的方法,依次获取所述多个观测系统中剩余的观测系统各自所对应的OVT道集;

依次利用每个观测系统所对应的OVT道集,计算每个观测系统所对应的OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度。

5.根据权利要求2或4所述的方法,其特征在于,所述依次利用每个观测系统所对应的OVT道集,计算每个观测系统所对应的OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度包括:

利用预先收集的测井和钻井资料,判断是否需要对目的层进行裂缝检测;

根据判断结果来计算所述目标区域中每个观测系统所对应的OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,根据判断结果来计算所述目标区域中每个观测系统所对应的OVT单元的炮检距与方位角的分布均匀度包括:

在判断出不需要对目的层进行裂缝检测时,利用下述公式来计算所述目标区域中所述观测系统所对应的OVT单元中任意方位角所对应的炮检距均匀度:

上面两式中,N为目标区域中OVT单元的个数,P(Xi)为OVT单元中任意方位角所对应的炮检距个数,为OVT单元中任意方位角所对应的炮检距平均个数,Xi为第i个OVT单元的炮检距组,H为目的层埋深,δ为目的层埋深的变化量,为方位角,i为正整数。

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