[发明专利]一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统

权利要求书

1.一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，其特征在于：所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块，其测量补偿步骤如下：

（1）所述上位机通过目标设定模块设定测量块的测量点的位置和个数，通过采集数据启动模块设定测量次数及测量方向，通过自动数据采集设定模块设定数据采集方式；

（2）启动主机B轴，同时启动高精度圆光栅测量测量块各个测量点来检测主机B轴的精度，通过数显变送器将测量数据送入上位机；

（3）上位机通过输出系统补偿模块进行处理后输出补偿数据给数控系统，并通过测量报告生成模块生成测量及数据补偿报告在上位机中显示；

（4）数控系统根据补偿数据调整主机B轴。

2.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述高精度圆光栅为18000线的圆光栅，其测量步距可以达到0.005°。

3.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述上位机通过USB口连接数显变送器。

4.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述目标设定模块包括输入第一定位点、最终定位点、间距值、目标值和点数点后位数预输入模块。

5.如权利要求1所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述采集数据启动模块包括定位方式、测量次数和选择测量方向预输入模块。

6.如权利要求1~5之一所述的一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，其特征在于：所述自动数据采集设定模块由采集方式设定模块组成；所述采集方式设定模块包括定时采集模块和位置采集模块。