[发明专利]一种AMOLED面板测试电路有效
申请号: | 201510443539.9 | 申请日: | 2015-07-24 |
公开(公告)号: | CN104992651B | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 周兴雨 | 申请(专利权)人: | 上海和辉光电有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201506 上海市金山区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 amoled 面板 测试 电路 | ||
1.一种AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述AMOLED测试电路包括:
数据线输出单元,包括若干数据线输出模块,每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对,每对所述数据线的一端相互耦合,每对所述数据线中未与其他所述数据线耦合在一起的一端用于提供输出数据;
第一测试单元,包括若干子控制单元,每个所述子控制单元均包括若干条支路,每条所述支路均与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应,所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上;以及
第二测试单元,包括若干条输入信号线,每条所述输入信号线与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应,所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端;
所述数据线输出单元中的相邻两个所述数据线输出模块的相互耦合在一起的一端通过一晶体管连接,且所述晶体管位于第二测试单元中;
在所述第一测试单元测试数据线输出单元的工作阶段,所述第二测试单元的输入信号线的输出无效。
2.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,每个所述数据线输出模块中仅开启一个所述晶体管以使每个所述数据线输出模块中只提供一个输出数据。
3.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,每个所述数据线输出模块中与所述数据线连接的所述晶体管均开启,以使每个所述数据线输出模块中的数据线均输出数据时。
4.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述子控制单元关闭,以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
5.如权利要求4所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述子控制单元关闭,打开所述晶体管以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
6.如权利要求5所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,打开所述数据线输出模块中与一所述数据线对连接的晶体管,以使每个所述数据线输出模块中只有一所述数据线对提供输出数据。
7.如权利要求5所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述第二测试单元中晶体管均打开,以使所述数据线输出模块中的所述数据线均提供输出数据。
8.一种AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述AMOLED测试电路包括:
数据线输出单元,包括若干数据线输出模块,每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对,每对所述数据线的一端相互耦合在一起,未与其他所述数据线耦合在一起的一端用以提供输出数据;
第一测试单元,包括若干子控制单元,每个所述子控制单元均包括若干条支路,每条所述支路与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应,每条所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上;以及
第二测试单元,包括若干输入信号线,每条输入信号线与数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应,每条所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上;
所述数据线输出单元一数据线输出模块的一数据线对相互耦合在一起的一端与所述数据线输出模块相邻的数据线输出模块中的一数据线对相互耦合在一起的一端通过一晶体管与一电平线连接,其中,所述电平线控制所述晶体管的打开与关闭的状态;
第二测试单元的输出无效,以使所述第一测试单元测试所述数据线输出单元。
9.如权利要求8所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述数据线输出模块中打开一个晶体管,以使每个所述数据线输出模块提供一个输出数据。
10.如权利要求8所述的AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述数据线输出模块中的与所述数据线连接的晶体管均打开,以使所述数据线输出模块中数据线均输出数据。
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