[发明专利]用于测试集成电路的方法和设备有效
| 申请号： | 201510445432.8 | 申请日： | 2015-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN106291313B | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 桑伟伟;张旺根 | 申请（专利权）人： | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 方法 设备 | ||
【权利要求书】：
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