[发明专利]基于纳米阵列电离放电效应的元素检测装置及检测方法在审
申请号: | 201510445809.X | 申请日: | 2015-07-27 |
公开(公告)号: | CN106066321A | 公开(公告)日: | 2016-11-02 |
发明(设计)人: | 黄辉;渠波;赵丹娜;宗杨;吕瑞 | 申请(专利权)人: | 黄辉;渠波;赵丹娜 |
主分类号: | G01N21/67 | 分类号: | G01N21/67 |
代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 | 代理人: | 朱黎光;李知伦 |
地址: | 116024 辽宁省大连市*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 纳米 阵列 电离 放电 效应 元素 检测 装置 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄辉;渠波;赵丹娜,未经黄辉;渠波;赵丹娜许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510445809.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。