[发明专利]组合薄膜制备及原位表征系统在审
申请号: | 201510446068.7 | 申请日: | 2015-07-27 |
公开(公告)号: | CN105132864A | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 郇庆;何格;袁洁;金魁;刘利 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | C23C14/24 | 分类号: | C23C14/24;C23C14/28;C23C14/35 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;冯丽欣 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 组合 薄膜 制备 原位 表征 系统 | ||
1.一种组合薄膜制备及原位表征系统,包括:
生长腔,所述生长腔中设有组合薄膜生长装置,用于在基片上生长组合薄膜;
至少一个表征腔,所述表征腔中设有组合薄膜表征装置;
准备腔,用于对所述基片进行预处理;
中转腔,所述中转腔同生长腔、表征腔以及准备腔之间分别通过管道连接,所述管道设有阀门;
机械臂,用于在所述中转腔、表征腔以及生长腔之间传递样品。
2.根据权利要求1所述的组合薄膜制备及原位表征系统,其中,所述组合薄膜生长装置选自脉冲激光沉积装置、磁控溅射装置以及分子束外延装置之一。
3.根据权利要求2所述的组合薄膜制备及原位表征系统,其中,所述分子束外延装置采用激光轰击靶材或者采用蒸发源,实现原子层生长。
4.根据权利要求1所述的组合薄膜制备及原位表征系统,其中,所述表征装置选自扫描探针显微镜、角分辨光电子能谱装置、霍尔测量装置、热输运测量装置、光电导测量装置和电子态表征装置之一。
5.根据权利要求1所述的组合薄膜制备及原位表征系统,其中,所述机械臂包括:
以第一方向为轴的360度自由旋转度的第一臂;
沿第二方向伸缩的第二臂,其中所述第一方向垂直于所述第二方向。
6.根据权利要求1所述的组合薄膜制备及原位表征系统,其中,所述组合薄膜制备及原位表征系统还包括进样腔,所述进样腔通过管道连接所述准备腔,所述管道设有阀门。
7.根据权利要求6所述的组合薄膜制造及原位表征系统,其中,在至少一个工作状态中,所述中转腔与所述生长腔、所述至少一个表征腔和所述准备腔中的两个腔室真空互联,使得可以经由所述中转腔在所述两个腔室之间转移样品。
8.根据权利要求6所述的组合薄膜制造及原位表征系统,其中,所述进样腔是唯一可以暴露于大气环境的腔室。
9.根据权利要求1所述的组合薄膜制造及原位表征系统,其中,所述生长腔用于生长连续梯度组分薄膜。
10.根据权利要求1所述的组合薄膜制造及原位表征系统,其中,组合薄膜样品和测量探针在所述准备腔中进行预处理。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院物理研究所,未经中国科学院物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510446068.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类