[发明专利]滚筒跌落试验设备在审

专利信息
申请号: 201510446600.5 申请日: 2015-07-27
公开(公告)号: CN105092198A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: 张硕;李金超;赵津骙 申请(专利权)人: 小米科技有限责任公司
主分类号: G01M7/08 分类号: G01M7/08
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 滚筒 跌落 试验 设备
【说明书】:

技术领域

本公开涉及电子产品跌落检测技术领域,尤其涉及一种用于移动终端的滚筒跌落试验设备。

背景技术

随着科学的发展,各类电子产品应运而生。为了适应市场的竞争力,各类电子产品在研发过程中需要进行跌落测试以确保质量过关。其中,滚筒跌落试验机广泛应用于移动电话、PAD(PortableAndroidDevice,平板电脑)、电子词典、个人数字助理、MP3、遥控器等可携带电子产品的回转跌落测试,通过该滚筒跌落测验机的相关参数的设定以评估电子产品耐回转跌落的能力。然而,现有滚筒跌落试验机按照GB/T2423.8-1995、IEC60068-2-32,JISC60068-2-32等测试标准,滚筒的跌落高度设定为500mm或者1000mm,不能适用不同类型电子产品执行差异化标准和研发过程中多种需求等变化。

发明内容

有鉴于此,本公开提出一种可自由调节滚筒跌落高度的滚筒跌落试验设备以解决上述技术问题。

为了到达上述目的,本公开所采用的技术方案为:

一种滚筒跌落试验设备,包括:架体结构,装配于所述架体结构上、供测试所述移动终端的跌落箱;所述跌落箱包括第一测试端和与所述第一测试端相对且可拆卸装配的第二测试端;

其中,所述跌落箱还包括装配于所述第一测试端和所述第二测试端之间的箱体组件,以增加跌落箱内的跌落测试高度。

可选的,所述箱体组件包括装配于所述第一测试端和所述第二测试端之间的第一箱体,可选择装配于所述第一测试端与所述第一箱体之间的第二箱体,以及可选择装配于所述第二测试端与第一箱体间的第三箱体。

可选的,在测试高度方向上,所述第二箱体和所述第三箱体的尺寸至少为所述第一测试端、第二测试端以及第一箱体的尺寸之和的二分之一。

可选的,所述第一测试端的连接端外缘与所述第二测试端的连接端外缘分别具有向外延伸出的第一连接部;所述第一箱体、所述第二箱体、所述第三箱体的连接端外缘分别具有向外延伸出的第二连接部;其中,相邻两个所述第一连接部之间、所述第一连接部与所述第二连接部之间、相邻两个所述第二连接部之间相互卡扣固定或者通过螺钉固定连接。

可选的,所述箱体组件包括可选择装配于所述第一测试端和所述第二测试端之间的第四箱体。

可选的,在测试高度方向上,所述第四箱体的尺寸至少为所述第一测试端与所述第二测试端的尺寸之和的二分之一。

可选的,所述第一测试端的连接端外缘与所述第二测试端的连接端外缘分别具有向外延伸出的第三连接部;所述第四箱体的连接端外缘具有向外延伸出、与所述第三连接部匹配连接的第四连接部。

可选的,在所述跌落箱内,位于同一侧面的内侧面处于同一平面上。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:本公开的滚筒跌落试验设备设计了一种新型跌落箱,该跌落箱可根据不同被测试设备或者被测试设备不同性能需求适应地调节跌落箱的跌落高度,以使该滚筒跌落试验设备适用范围更广,适应不同类型移动终端执行差异化标准和研发过程多种需求等变化。

应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1为本公开滚筒跌落试验设备的整体结构示意图;

图2a~图2c为本公开滚筒跌落试验设备一实施例中跌落筒增加跌落高度的分解步骤结构示意图;

图3a~图3c为本公开滚筒跌落试验设备又一实施例中跌落筒增加跌落高度的分解步骤结构示意图。

具体实施方式

以下将结合附图所示的具体实施方式对本公开进行详细描述。但这些实施方式并不限制本公开,本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本公开的保护范围内。

在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

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