[发明专利]空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，包括：测试支架、罐内电缆、测试单元、罐外电缆、罐外测控柜以及控制终端；其中，所述测试支架、测试单元和罐内电缆设置于真空罐的内部，所述测试单元安装于测试支架上，所述测试单元通过罐内电缆与罐外电缆相连接，所述罐外电缆与罐外测控柜相连接，所述罐外测控柜与控制终端相连接；

所述测试支架呈十字形结构；

所述测试单元共五块，五块测试单元中的其中一块位于十字形测试支架的中心处，五块测试单元中的另外四块分别设置于距离十字形测试支架中心处一定距离的上、下、左、右四个位置上；

每一块所述测试单元均包括：导热材料层、硅光电池、温度传感器、加热片以及基板；其中，所述硅光电池通过导热材料层固定于基板的向阳面中心位置；所述温度传感器为两块，两块温度传感器通过导热材料层分别设置于硅光电池的左右两侧，其中，位于左侧的温度传感器为主控温度传感器，位于右侧的温度传感器为备份温度传感器，位于左侧的温度传感器和位于右侧的温度传感器与硅光电池之间距离一致，且固定位置与硅光电池处于同一高度；所述加热片设置于基板的背阳面。

2.根据权利要求1所述的空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，五块测试单元中的另外四块分别设置于距离十字形测试支架中心处1米的上、下、左、右四个位置上。

3.根据权利要求1所述的空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，所述导热材料层采用双面压敏胶，厚度小于0.1mm；所述双面压敏胶为胶面两侧无温度差的双面胶；

所述硅光电池采用20×40mm尺寸；

两个所述温度传感器均采用PT100温度传感器；两个传感器之间距离为80mm，其中每一个温度传感器固定后占用基板面积不超过10×10mm；

所述基板采用长×宽×厚为120×120×2mm的纯铜板；所述基板的向阳面表面发射率为0.85；所述基板的背阳面涂黑漆，发射率为0.92；

所述加热片采用100×100mm尺寸加热片，加热功率为0.8W/cm²。

4.根据权利要求1所述的空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，所述测试支架包括底座、中间横杆和竖杆，其中，所述中间横杆焊接于底座的顶端，所述竖杆焊接于中间横杆的中心位置并与中间横杆垂直设置，形成十字形结构。

5.根据权利要求4所述的空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，所述底座、中间横杆和竖杆均采用中空结构的正方形铝合金管材，所述中空结构中设有用于暴露于大气中的气孔；所述竖杆突出于中间横杆。

6.根据权利要求5所述的空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，所述竖杆突出于中间横杆4mm；所述气孔尺寸为2×26mm。

7.根据权利要求1所述的空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，所述罐外测控柜包括闭环温控单元和数据采集单元，其中，所述闭环温控单元与测试单元的加热片和温度传感器相连接，所述数据采集单元与测试单元的硅光电池相连接。

8.根据权利要求7所述的空间环境下太阳模拟器辐照均匀性检测装置，其特征在于，所述数据采集单元并联有电阻值为1Ω的负载功率1W的功率电阻。