[发明专利]用于改进的相位基准性能的利用自适应相移的双正交在审

专利信息
申请号: 201510453820.0 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN105319523A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: J.P.P.维姆;K.M.恩根哈德特;L.J.多博斯 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R25/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 马红梅;刘春元
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 改进 相位 基准 性能 利用 自适应 相移 正交
【权利要求书】:

1.一种用于校正测试和测量仪器中的定时误差的方法,包括:

接收时钟信号;

将时钟信号拆分成第一时钟信号、第二时钟信号、第三时钟信号和第四时钟信号;

将第一时钟信号路由至第一采样器,将第二时钟信号路由至第二采样器,将第三时钟信号路由至第三采样器,并且将第四时钟信号路由至第四采样器;

在第一采样器处以第一相位对第一时钟信号采样,在第二采样器处以从第一相位偏移90度的第二相位对第二时钟信号采样,在第三采样器处以从第一相位偏移45度的第三相位对第三时钟信号采样,并且在第四采样器处以从第三相位偏移90度的第四相位对第四时钟信号采样;

将来自采样器的输出中的每一个数字化;以及

从数字化输出基于数字化输出计算定时校正。

2.权利要求1的方法,其中在数字化之前,对来自第一采样器和第三采样器的输出进行求和,并且对来自第二采样器和第四采样器的输出进行求和。

3.权利要求1的方法,其中计算时间校正包括:

计算第一采样器与第二采样器之间的第一相位测量,

计算第三采样器与第四采样器之间的第二相位测量,以及

对第一和第二相位测量求平均。

4.权利要求1的方法,还包括基于所计算的定时校正来修改数据信号的定时。

5.一种供测试和测量仪器中使用的定时误差校正系统,包括:

被配置成接收时钟信号的时钟信号输入;

被配置成将时钟信号拆分成四个时钟信号的拆分器;

四个采样器,每一个采样器被配置成接收所述四个时钟信号之一且被配置成输出经采样的信号;

被配置成从所述四个采样器接收输出的经采样的信号的至少两个模数转换器;以及

被配置成基于所述四个采样器的数字化输出计算定时校正误差的处理器。

6.权利要求5的定时误差校正系统,其中所述四个采样器中的每一个采样器被选通成从其它采样器中的至少一个偏移45度。

7.权利要求5的定时误差校正系统,还包括四个模数转换器,每一个模数转换器被配置成从所述四个采样器接收四个输出之一,其中处理器被配置成通过计算第一采样器与第二采样器之间的第一相位测量、计算第三采样器与第四采样器之间的第二相位测量并对第一和第二相位测量求平均来计算定时校正误差。

8.权利要求5的定时误差校正系统,还包括:

被配置成对来自第一采样器的输出和来自第三采样器的输出进行求和的第一求和器;

被配置成对来自第二采样器的输出和来自第四采样器的输出进行求和的第二求和器,

其中来自第一求和器和第二求和器的输出各自被发送到至少两个模数转换器。

9.权利要求5的定时误差校正系统,其中处理器还被配置成基于所计算的定时校正来校正数据信号的定时。

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