[发明专利]等离子体处理装置和等离子体处理方法有效
申请号: | 201510455789.4 | 申请日: | 2015-07-29 |
公开(公告)号: | CN105316639B | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 木原嘉英;本田昌伸;久松亨 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C14/38 | 分类号: | C23C14/38;H01J37/32;H01J37/34 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 第二电极 等离子体处理装置 高频电力 等离子体处理 第一电极 直流电力 溅射 相向 等离子体 室内 等离子体形成 气体供给源 高频电源 供给气体 载置基板 直流电源 配置的 电极 隔开 配置 | ||
本发明提供一种等离子体处理装置和等离子体处理方法。目的在于在腔室内的电极上形成作为靶发挥功能的膜并对所形成的膜进行溅射。在该等离子体处理装置中,载置基板的第一电极与同上述第一电极相向地配置的第二电极以隔开规定的间隙的方式相向地配置,该等离子体处理装置具有:第一高频电源,其向上述第二电极供给第一高频电力;直流电源,其向上述第二电极供给直流电力;以及气体供给源,其向腔室内供给气体,上述第二电极具有利用通过供给第一气体和上述第一高频电力而生成的等离子体形成的反应产物的膜,上述第二电极成为利用通过供给第二气体、上述第一高频电力以及上述直流电力而生成的等离子体对上述反应产物的膜进行溅射的靶。
技术领域
本发明涉及一种等离子体处理装置和等离子体处理方法。
背景技术
提出了一种对靶材施加直流电力来对靶材进行溅射以形成膜的方法(例如参照专利文献1、2)。例如,在专利文献1中公开了一种通过对靶材施加脉冲状的直流电力来对接触孔、通孔、配线槽等的内壁面形成膜的溅射成膜方法。
专利文献1:日本特开2009-280916号公报
专利文献2:日本特开2004-266112号公报
发明内容
然而,在专利文献1、2中,对配置在腔室内的靶材执行溅射,因此难以对不具有适于预先配置在腔室内的靶材的膜使用上述溅射成膜方法。
例如,期望通过溅射对如包含碳(C)和氟(F)的膜那样的不具有适于预先配置在腔室内的靶材的膜进行成膜。
针对上述问题,在一个方面,本发明的目的在于在腔室内的电极上形成作为靶材发挥功能的膜并对所形成的膜进行溅射。
为了解决上述问题,根据一个方式,提供一种等离子体处理装置,载置基板的第一电极与同上述第一电极相向地配置的第二电极以隔开规定的间隙的方式相向地配置,该等离子体处理装置具有:第一高频电源,其向上述第二电极供给第一高频电力;直流电源,其向上述第二电极供给直流电力;以及气体供给源,其向腔室内供给气体,其中,上述第二电极具有利用通过供给第一气体和上述第一高频电力而生成的等离子体形成的反应产物的膜,上述第二电极成为利用通过供给第二气体、上述第一高频电力以及上述直流电力而生成的等离子体对上述反应产物的膜进行溅射的靶。
根据一个方式,能够在腔室内的电极上形成作为靶材发挥功能的膜并对所形成的膜进行溅射。
附图说明
图1是表示一个实施方式所涉及的等离子体处理装置的整体结构的一例的图。
图2是表示一个实施方式所涉及的等离子体处理方法的一例的流程图。
图3是表示一个实施方式所涉及的等离子体处理方法的效果的一例的图。
图4是表示一个实施方式所涉及的直流电压施加时间与掩膜的宽度之间的关系的图。
10:等离子体处理装置;12:腔室;15:上部电极;16:电极支承体;18:高频电力源;19:直流电源;20:载置台(下部电极);22:静电卡盘;26:聚流环;28:高频电力源;32:气体供给源;110:ArF抗蚀膜;120:防反射膜;130:有机膜;200:控制部。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510455789.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种薄膜产品制备过程中的监控设备
- 下一篇:一种聚合物材料产品的表面镀膜工艺
- 同类专利
- 专利分类