[发明专利]一种红外学习测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及测试电路，尤其涉及一种红外学习测试电路。

背景技术

现有技术：现有适用于机顶盒等数码产品类红外遥控器，一般都具有学习功能，替代另外一个遥控器的部分按键功能，工厂在批量生产过程，需要验证其功能正常；

为保证产品批量测试验证，模拟多个按键同时按下，一般使用继电器开关端连接相应PCBA按键两端，并将多个继电器并联，再对继电器供电（3.0V），然后按下继电器电磁端，此时开关端动作，完成相应学习功能确认。

但此技术方案工厂生产不良率约为2-3%。此类不良，经重新学习后，即可正常（即为客户端单个产品学习操作，无任何功能影响）。后经多次对比分析，发现当按下学习保存键继电器电磁端开关后弹起瞬间时，线圈可能产生瞬时反向感应信号，当反馈电流流入PCBA后导致学习保存信号受干扰而导致学习码值偏差失败。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种避免开关端产生感应电流而干扰学习信号的红外学习测试电路。

本发明提供了一种红外学习测试电路，包括第一学习继电器J1和第二学习继电器J2，所述第一学习继电器J1的负极电磁端、第二学习继电器J2的负极电磁端相连接，所述第一学习继电器J1的正极电磁端连接有开关K1，所述第二学习继电器J2的正极电磁端连接有开关K3，所述第二学习继电器J2分别并联有二极管D1和电容C1。

作为本发明的进一步改进，所述第一学习继电器J1包括电磁线圈L1、开关KC1－1、开关KC1－2，所述开关KC1－1、开关KC1－2分别接进入学习模式按键。

作为本发明的进一步改进，所述第二学习继电器J2包括电磁线圈L2、开关KC2－1、开关KC2－2，所述开关KC2－1、开关KC2－2分别接学习按键。

作为本发明的进一步改进，所述二极管D1的导通电压为0.3V。

作为本发明的进一步改进，所述二极管D1、电容C1均并联于所述第二学习继电器J2的正极电磁端、开关K3之间。

作为本发明的进一步改进，所述二极管D1的输入端接所述第二学习继电器J2的负极电磁端，所述二极管D1的输出端接所述第二学习继电器J2的正极电磁端。

本发明的有益效果是：利用电容C1和二极管D1组合滤波和单向导通原理，吸收第二学习继电器的电磁端可能产生的瞬间电流，避免开关端产生感应电流而干扰学习信号。

附图说明

图1是本发明一种红外学习测试电路的电路图；

图2是本发明一种红外学习测试电路的学习原理图。

具体实施方式

下面结合附图说明及具体实施方式对本发明进一步说明。

如图1至图2所示，一种红外学习测试电路，包括第一学习继电器J1和第二学习继电器J2，所述第一学习继电器J1的负极电磁端、第二学习继电器J2的负极电磁端相连接，所述第一学习继电器J1的正极电磁端连接有开关K1，所述第二学习继电器J2的正极电磁端连接有开关K3，所述第二学习继电器J2分别并联有二极管D1和电容C1。

如图1至图2所示，所述第一学习继电器J1包括电磁线圈L1、开关KC1－1、开关KC1－2，所述开关KC1－1、开关KC1－2分别接进入学习模式按键。

如图1至图2所示，所述第二学习继电器J2包括电磁线圈L2、开关KC2－1、开关KC2－2，所述开关KC2－1、开关KC2－2分别接学习按键。

如图1至图2所示，所述二极管D1的导通电压为0.3V。

如图1至图2所示，所述二极管D1、电容C1均并联于所述第二学习继电器J2的正极电磁端、开关K3之间。

如图1至图2所示，所述二极管D1的输入端接所述第二学习继电器J2的负极电磁端，所述二极管D1的输出端接所述第二学习继电器J2的正极电磁端。

如图1至图2所示，测试过程中，将学习机发射管2与被学习机发射管1相对，先按下学习机设置键开关K1、开关KC1-1动作，学习机进入学习模式，再按下被学习机相应按键开关K2，被学习机发射相应码值信号，同时学习接收到相应信号，在按下第二继电器J2电磁端的开关K3、KC2-1动作保存信号，当开关K3断开瞬间时，第二继电器J2电磁端可能产生反向瞬时电压约30-50V，高于二极管D1的导通电压0.3V，此时二极管D1直接导通，使第二继电器J2电磁线圈两端形成回路，无任何电势差，然后电解电容C1对残余电流吸收，此时电磁端无电流通过，开关端KC2-1无感应电流确保红外学习信号无内部干扰导致错误。