[发明专利]大面积扩展辐射定标光源均匀性测试装置有效
申请号: | 201510457881.4 | 申请日: | 2015-07-30 |
公开(公告)号: | CN105043724B | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 李宪圣;任建伟;孙景旭;万志;刘则询;刘洪兴;李葆勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 | 代理人: | 李青 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大面积 扩展 辐射 定标 光源 均匀 测试 装置 | ||
1.大面积扩展辐射定标光源均匀性测试装置,其特征在于,该装置包括:测试单元、安装架、垂直导轨、水平导轨、固定架、控制器和主控计算机;所述多个测试单元安装在安装架上,安装架固定在垂直导轨上,垂直导轨安装在水平导轨上,水平导轨安装在固定架上;主控计算机通过控制控制器实现垂直导轨和水平导轨精确运动,同时控制多个测试单元同时完成对光源辐射信号的数据采集、传输和转换;所述测试单元包括:小积分球和光电转换组件;光电转换组件位于小积分球的顶端;小积分球入光口前的π空间立体角内的光全部由小积分球收集后,经过多次反射,由光电转换组件采集,并转换成电信号,再有后续的电路处理转化为数字信号,并经过绝对辐射响应定标,转化为辐射照度量输出,由主控计算机进行采集。
2.根据权利要求1所述的大面积扩展辐射定标光源均匀性测试装置,其特征在于,所述垂直导轨和水平导轨上各自安装光栅尺,高精度定位。
3.根据权利要求1所述的大面积扩展辐射定标光源均匀性测试装置,其特征在于,所述测试单元在使用前经过绝对辐射定标,具有一致性。
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