[发明专利]数字射线透照技术精确检测材料的缺陷及厚度的方法有效
申请号: | 201510467606.0 | 申请日: | 2015-08-03 |
公开(公告)号: | CN105158280B | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 赵建江 | 申请(专利权)人: | 赵建江 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01B15/02 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 | 代理人: | 刘萍 |
地址: | 100174 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数字 射线 透照 技术 精确 检测 材料 缺陷 厚度 方法 | ||
1.数字射线透照技术精确检测材料的缺陷及厚度的装置,其特征在于:
包括把带固定斜率的试块,放置于被检测材料上,当由上向下的射线场同时穿过被检工件和带有固定斜率的试块时,由数字射线接收平板接收到衰减后的射线,由数据显示处理单元转换成二维图像;
对于平板焊缝检测,带固定斜率的试块放置在被检工件旁边;该试块为截面是直角梯形的试块,其中直角边水平放置和工件在一个水平面上;
对于小径管检测,用截面为半圆环形的带斜率试块,该试块轴向方向的截面为半圆环形,周向方向的截面为直角梯形;截面为半圆环形的带斜率试块的内径等于小径管的外径,试块紧密包裹在被检工件外,且放置在焊缝旁边。
2.应用如权利要求1所述装置的方法,其特征在于:把已知带固定斜率的试块放置于被检测材料上,使用数字射线进行检测,得到二维图像进行灰度查询,找到和缺陷位置灰度相等斜率试块的位置,从而根据试块的斜率计算出该点的厚度;
在二维图像上,贯穿带固定斜率的试块和缺陷位置平行于划过一条直线时,计算机会显示出这条线的灰度变化图,焊缝余高位置灰度最小,穿过缺陷位置时灰度最大,穿透斜率试块部分的X射线能量损失随着厚度的变化而变化;固定斜率的试块以下简称为试块;
L是试块的投影长度,试块的实际长度为L0;通过计算机找到试块上和焊缝余高处灰度相等的位置,通过其在长度坐标的投影计算出L1的长度;同样,找到试块上和焊缝缺陷灰度相等的位置,通过投影计算出L2的长度;具体如下:
H:试块有斜率部分的高度,已知量
焊缝余高位置灰度的相对高度H1通过公式可以计算:
H1=(H/L0)*L1*(L0/L)得出焊缝余高的高度
H1+试块的最小高度+管道的公称壁厚=余高位置的厚度;
计算焊缝缺陷处灰度的相对高度H2:
H2=(H/L0)*L2*(L0/L)
两者相减得到缺陷位置的高度:缺陷高度=H1-H2。
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