[发明专利]显示装置和制造显示装置的方法有效
申请号: | 201510477742.8 | 申请日: | 2015-08-06 |
公开(公告)号: | CN105374311B | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 郭源奎;张桓寿;李在容 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20;G09G3/00 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;刘铮 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 制造 方法 | ||
1.一种显示装置,包括:
显示区域,包括与数据线和扫描线耦接的像素;
测试焊盘,用于接收测试信号;
多个第一测试晶体管,耦接在所述显示区域的所述数据线与所述测试焊盘之间;
至少一个轮廓线,耦接在所述多个第一测试晶体管之一与所述测试焊盘之间,所述至少一个轮廓线位于所述显示区域外部的非显示区域中,以及
电阻,位于所述多个第一测试晶体管中未与所述至少一个轮廓线耦接的所述第一测试晶体管和所述测试焊盘之间,
其中,所述至少一个轮廓线穿过与所述显示区域邻近的路径至少两次,从而至少部分地围绕所述显示区域的外部。
2.如权利要求1所述的显示装置,其中:
所述至少一个轮廓线通过所述第一测试晶体管耦接至与所述显示区域中的至少一个绿色像素或绿色子像素耦接的所述数据线。
3.如权利要求1所述的显示装置,其中所述电阻为电阻器。
4.如权利要求1所述的显示装置,还包括:
多个数据焊盘;
测试控制焊盘,与所述第一测试晶体管的控制电极耦接;
多个初始化晶体管,耦接在所述显示区域的所述数据线与所述数据焊盘之间,以接收初始化信号;以及
多个初始化控制焊盘,与所述初始化晶体管的控制电极耦接。
5.如权利要求4所述的显示装置,其中所述测试焊盘、所述测试控制焊盘、所述初始化控制焊盘、所述数据焊盘、所述第一测试晶体管、所述初始化晶体管以及所述至少一个轮廓线位于所述非显示区域中。
6.如权利要求4所述的显示装置,其中所述测试控制焊盘接收测试控制信号,所述测试控制信号与通过所述初始化控制焊盘之一接收的初始化控制信号相反。
7.如权利要求6所述的显示装置,其中:
在所述测试控制信号被供给为第一栅极导通电压值的周期内,所述扫描线供给有扫描信号,以及
所述扫描信号被供给为第二栅极导通电压值。
8.如权利要求1所述的显示装置,还包括:
多个第一测试控制焊盘,与所述第一测试晶体管的控制电极耦接;
多个初始化晶体管,耦接在所述显示区域中的所述数据线与初始化焊盘之间,以接收初始化信号;
多个初始化控制焊盘,与所述多个初始化晶体管的控制电极耦接;
第二测试晶体管,耦接在所述数据线之一与所述至少一个轮廓线之间;
第二测试控制焊盘,与所述第二测试晶体管的控制电极耦接;以及
多个数据焊盘,与所述数据线耦接。
9.如权利要求8所述的显示装置,其中所述第一测试控制焊盘和所述第二测试控制焊盘接收测试控制信号,所述测试控制信号与通过所述初始化控制焊盘之一接收的初始化控制信号相反。
10.如权利要求9所述的显示装置,其中在所述测试控制信号被供给为第一栅极导通电压值的周期期间,供给至所述扫描线的扫描信号被供给为第二栅极导通电压值。
11.如权利要求8所述的显示装置,其中所述测试焊盘、所述第一测试控制焊盘和所述第二测试控制焊盘、所述初始化控制焊盘、所述数据焊盘、所述第一测试晶体管和所述第二测试晶体管、所述初始化晶体管以及所述至少一个轮廓线位于所述非显示区域中。
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