[发明专利]用于磁共振成像的方法在审

专利信息
申请号: 201510477943.8 申请日: 2015-06-12
公开(公告)号: CN105167773A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: S·比伯;D·尼德洛纳;A·施密特;M·维斯特 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;G01R33/38
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 熊雪梅
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 磁共振 成像 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于磁共振成像的方法和一种磁共振设备。

背景技术

在也称为磁共振断层成像系统的磁共振设备中,通常借助主磁体使检查人员特别是患者的待检查的身体经受较高的主磁场,例如1.5或3或7特斯拉。此外,借助梯度线圈单元发出梯度脉冲。通过高频天线单元然后借助合适的天线装置发出高频的高频脉冲、尤其是激励脉冲,其使得特定的、通过该高频脉冲共振激励的原子的核自旋相对于主磁场的磁场线翻转限定的翻转角。在核自旋弛豫时,发射高频信号、所谓的磁共振信号,其借助合适的高频天线被接收,然后被进一步处理。最后可以从这样采集的原始数据中重建所希望的图像数据。

在此,对于特定的测量发出特定的磁共振序列,其也称作脉冲序列,该磁共振序列由一系列尤其为激励脉冲和重聚脉冲的高频脉冲以及待与此协调地发出的、在沿着不同空间方向的不同梯度轴线中的梯度脉冲构成。时间上与此匹配地设置读取窗,以采集磁共振信号。

在借助磁共振设备进行的磁共振成像中,检查体积中的主磁场的均匀性很重要。即使在均匀性有小的偏差的情况下,就已经能够导致核自旋的频率分布方面的大的偏差,从而记录到质量低的磁共振图像数据。

为了改进检查体积中的均匀性,已知匀场装置。如果将磁共振设备安装在它的确定地点中,则存在于环境中的场会限制所给定的主磁场的均匀性,尤其是围绕磁共振设备的等中心的主磁场的均匀性。因此,在安装和调试磁共振设备时,通常结合测量将匀场装置设置为使得建立尽可能最优的均匀性。因此在安装和调试磁共振设备时计算基础匀场设置。

然而,待拍摄的检查对象本身成为了另一不均匀性来源。如果例如将待检查的人员带入磁共振设备,则身体的材料基于其磁导率而重新干扰均匀性。为了克服该问题,已知的是使用可校准的匀场单元。尤其为此已知电匀场线圈,其在以不同的匀场电流控制下产生不同的补偿磁场,以便改进均匀性。

为了对待检查对象的这些干扰进行匀场,常见的是,当待检查的人员被带入磁共振设备的患者容纳区域中之后,首先在使用磁共振设备本身,借助在安装和调试磁共振设备期间获得的基础匀场设置控制匀场单元的情况下,进行对场分布、即所谓的B0图的测量。此后,从基础匀场设置出发,借助匀场控制单元在考虑所测量的场分布的条件下确定优化过的匀场设置。在使用优化过的匀场设置的条件下,然后控制匀场单元来实现尽可能最优的均匀性。

在常规的方法中,典型地在单独的测量中确定对于计算匀场设置所需的B0图。在该单独的测量中典型地为了建立B0图而测量相位差和/或频率差。如此在常规方法中单独地测量B0图导致了如下缺点,即,其与测量时间的提高相关联。此外还导致,在改变了磁共振设备的患者安置装置的台位置之后可能还必须在另一单独测量中重新确定B0图。此外,该根据常规方法在单独的测量中确定的B0图具有相位编码方向上的信号折叠,并且由此导致在借助该B0图正确计算匀场设置时的问题。

从Salomir等的文献“AFastCalculationMethodforMagneticFieldInhomogeneityduetoanArbitraryDistributionofBulkSusceptibility”,ConceptsinMagneticResonancePartB(MagneticResonanceEngineering),Vol.19B(1)26-34(2003)中已知,从磁导率值的分布中计算B0图。

发明内容

本发明基于如下任务,即,能够实现对于磁共振成像的匀场设置的有效计算。

本发明基于一种用于借助磁共振设备对检查对象进行磁共振成像的方法,包括如下方法步骤:

-借助磁共振设备采集检查对象的第一磁共振图像数据,

-将第一磁共振图像数据分割为至少两种材料类型,

-借助所分割的第一磁共振图像数据和借助所述至少两种材料类型的磁导率值计算B0图,

-根据所计算的B0图计算匀场设置,

-借助磁共振设备采集检查对象的第二磁共振图像数据,其中,在使用所计算的匀场设置的条件下采集该第二磁共振图像数据。

检查对象可以是患者、培训人员或者人体模型。根据第二磁共振图像数据,尤其借助磁共振设备的运算单元建立磁共振图像。磁共振图像可以在磁共振设备的显示单元上输出和/或存储在数据库上。

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