[发明专利]一种粒子成像室

说明书

技术领域

本发明涉及影像式粒子分析仪技术领域，尤其涉及的是一种粒子成像室。

背景技术

分析液体样本中的粒子，最有效的方法是使液体样本中的粒子从一个狭窄的通道流过，同时在这个狭窄的粒子通道上通过显微成像系统采集粒子的特征信息。目前，显微成像系统技术已经相当成熟，且处于不断上升提高的阶段；为了得到准确的特征信息，在成像室内形成稳定的、很薄的平面流技术显得格外重要。

样本中的粒子在通道内流动时，处于中心处的粒子流速最快，紧贴通道壁面处的流速最低，其余位置的流速根据距离中心处位置的不同而呈抛物线规律；不在中心位置的粒子与周围液体流速不一致，在流动过程中会造成翻滚现象，导致粒子图像存在弯折、堆积、卷曲等缺陷。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种粒子成像室，旨在解决现有技术中待成像的样本中的粒子无法在成像室内形成稳定的、很薄的平面流的缺陷。

本发明的技术方案如下：

一种粒子成像室，其中，包括依次设置的用于注入鞘液及样本液体、且使鞘液具有相同的注入速度的整流腔部件，用于从对所述整流腔部件流出的鞘液进行第一次加速的加速腔部件，用于对从所述加速腔部件中流出的鞘液在包裹从整流腔部件直接注入的样本液体后进行第二次加速的聚焦腔部件，及用于通过腔外设置的显微成像系统对从所述聚焦腔部件流出的包裹着样本液体的鞘液进行图像采集的识别腔部件。

所述粒子成像室，其中，所述整流腔部件包括：

对称式整流腔；

套设在所述对称式整流腔上的样本针座；

设置在所述的对称式整流腔入口处的排气座；

垂直设置在所述排气座的侧壁上第一排气接头及第二排气接头；

垂直设置在所述排气座顶端、贯穿所述排气座并延伸至聚焦腔部件的样本针；

设置在所述样本针座的侧壁上、贯穿所述样本针座并延伸至对称式整流腔的鞘液入口管。

所述粒子成像室，其中，所述第一排气接头与所述第二水平接头在水平方向上呈90°夹角，且在竖直方向上不处于同一高度。

所述粒子成像室，其中，所述加速腔部件的长度为5mm-15mm。

所述粒子成像室，其中，所述聚焦腔部件的侧面壁厚为0-2mm，且其河道宽度为0-6mm。

所述粒子成像室，其中，所述识别腔部件包括：

对称式识别腔；

设置在所述对称式识别腔出口处的排废液座；

设置在所述排废液座上的排废液接头。

所述粒子成像室，其中，所述对称式识别腔的前表面和后表面上均设置有至少2个标记点。

所述粒子成像室，其中，所述对称式识别腔的前表面的四个顶角中的两个相对的对角上分别设置有第一标记点及第二标记点。

所述粒子成像室，其中，所述对称式识别腔的后表面的四个顶角中的两个相对的对角上分别设置有第三标记点及第四标记点。

所述粒子成像室，其中，所述标记点由4个高度不同的方形区域组成，且每一方形区域的几何中心处设置有十字线。

有益效果：本发明所述的粒子成像室，可用于影像式粒子分析仪，包括依次设置的整流腔部件、加速腔部件、聚焦腔部件及识别腔部件。所述粒子成像室输入样本液体和鞘液，其中鞘液在通过所述粒子成像室的腔体后能够对样本液体的截面厚度进行压缩，使其达到理想厚度后拍照分类；并且可提高样本液体内粒子的运动姿态稳定性，特别是对不规则形状粒子运动姿态稳定性的提高，从而提高自动分类识别的成功率及分析结果的准确性。

附图说明

图1为本发明所述的粒子成像室的区域划分示意图。

图2为本发明所述的粒子成像室的结构示意图。

图3为非对称流道的示意图。

图4a为本发明所述的粒子成像室中对称式识别腔的前表面上标记点的示意图。

图4b为本发明所述的粒子成像室中对称式识别腔的后表面上标记点的示意图。

图5为本发明所述的粒子成像室中标记点的示意图。

图6为聚焦腔部件中不同鞘流池宽度对样本液体的层流宽度影响的模拟仿真结果曲线图。

图7为不同加速腔部件长度模拟仿真结果曲线图。

具体实施方式

本发明提供一种粒子成像室，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。