[发明专利]一种转换波方位各向异性校正方法及装置

说明书

技术领域

本申请涉及转换波地震勘探资料处理技术领域，特别涉及一种基于横波分裂分析的转换波方位各向异性校正方法及装置。

背景技术

转换横波分裂分析和校正是转换波方位各向异性处理的一项关键技术。转换横波分裂分析和校正可以是指在横波分裂分析的基础上，对转换波方位各向异性进行校正。利用该方法不仅能改善转换波成像质量，还可以获得地层相关的裂隙发育方向和密度，这可以用于储层预测。

转换波方位各向异性校正可以是指根据横波分裂分析所确定的裂缝发育方位，对转换波进行快、慢波分离，并利用分析的快、慢时差参数对慢波做时差校正，并且在目的层为多层时，可以采用层剥离法来实现转换波方位各向异性校正。

目前，主要是利用互相关法、能量比值法、横向能量最小的双扫描法或径向能量叠加能量最大的双扫描法等角度扫描法来对所采集的转换波地震数据进行横波分裂分析，实现快慢、横波的分离并确定出裂缝发育方位；然后利用所确定的裂缝发育方位，获得裂缝发育方向上的快、慢横波并计算快、慢横波的时延；再根据所得到的固定时延，对慢横波进行各向异性校正，将快横波分量和校正后的慢横波分量反转回原来的径向和横向分量，实现转换波方位各向异性校正。

在实现本申请过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

现有技术中基于横波分裂分析的转换波方位各向异性校正方法，是基于单层或多层水平层状HTI(Horizontal Transverse Isotropy水平横向各向同性)介质模型，但在广泛存在垂直裂隙或定向分布的裂隙的薄互层分布的地区，地下介质的裂缝各向异性变化复杂，这种情况下可以将介质模型等效为正交各向异性介质(可以简称为正交介质)模型，对于这种介质模型在实际应用中很难再用单层或多层HTI介质来描述。因此，需要提供一种新的技术方案，以实现正交各向异性介质中转换波方位各向异性的校正。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种转换波方位各向异性校正方法及装置，以实现正交介质中转换波方位各向异性的校正。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供一种转换波方位各向异性校正方法及装置是这样实现的：

本申请实施例提供了一种转换波方位各向异性校正方法，包括：

利用所获取的转换波径向分量数据和横向分量数据，确定目标区域中第一目的层的裂缝发育方向；

将所述转换波径向分量数据和横向分量数据进行预设变换，获得所述裂缝发育方向上的快横波道集和慢横波道集；

利用所获得的快横波道集和慢横波道集以及预设的滑动时窗，计算第一目的层内每个样点所对应的快横波和慢横波之间随时间变化的时延；

利用计算出的所述时延，对所述慢横波道集进行校正，得到慢横波校正道集；

对所述快横波道集和所述慢横波校正道集进行所述预设变换的逆变换，得到横波分裂校正后所述第一目的层所对应的转换波径向分量数据和横向分量校正数据。

本申请实施例还提供了一种转换波方位各向异性校正装置，该装置包括：

确定单元，用于利用所获取的转换波径向分量数据和横向分量数据，确定目标区域中第一目的层的裂缝发育方向；

变换单元，用于将所述转换波径向分量数据和横向分量数据进行预设变换，获得所述裂缝发育方向上的快横波道集和慢横波道集；

计算单元，用于利用所获得的快横波道集和慢横波道集以及预设的滑动时窗，计算第一目的层内每个样点所对应的快横波和慢横波之间随时间变化的时延；

校正单元，用于利用计算出的所述时延，对所述慢横波道集进行校正，得到慢横波校正道集；

逆变换单元，用于对所述快横波道集和所述慢横波校正道集进行所述预设变换的逆变换，得到横波分裂校正后所述第一目的层所对应的转换波径向分量数据和横向分量校正数据。

与现有技术相比，本申请实施例通过计算预设滑动时窗内每个样点所对应的快横波和慢横波之间随时间变化的时延；利用所述时延，对所述慢横波道集进行校正，得到慢横波校正道集；对所述快横波道集和所述慢横波校正道集进行所述预设变换的逆变换，得到横波分裂校正后所述第一目的层所对应的转换波径向分量数据和横向分量校正数据，这使得所得到的转换波径向分量数据和横向分量校正数据更加精确，可以反映出裂缝各向异性变化复杂的介质(即正交介质)的特性，因此，这实现了提供适用于正交介质的转换波方位各向异性校正方法的目的。

附图说明