[发明专利]一种基于多波长和多偏振态的数字全息三维形貌检测装置有效

专利信息
申请号: 201510492825.4 申请日: 2015-08-12
公开(公告)号: CN105066908B 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 潘锋;肖文;马希超;李玉旺;吕晓云;王庆伍 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京永创新实专利事务所11121 代理人: 赵文颖
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 波长 偏振 数字 全息 三维 形貌 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种基于多波长和多偏振态的数字全息三维形貌检测装置,包括激光光源、分光及更改偏振态单元、第一光束准直单元、被测物体、第二光束准直单元、光程补偿及光束偏转单元和CMOS相机;

激光光源产生激光1a,激光1a输入至分光及更改偏振态单元;

分光及更改偏振态单元包括可调衰减器、A半波片、偏振分光棱镜、B半波片、第一检偏器、C半波片、第二检偏器;

激光1a经可调衰减器、A半波片后,入射到偏振分光棱镜,被分为两束偏振方向正交的透射光和反射光,其中透射光经B半波片和第一检偏器后形成空间线偏振光2a,进入物光光路;反射光经C半波片和第二检偏器后形成空间线偏振光2b,进入参考光路;

其中,通过调节A半波片改变空间线偏振光2a和2b光强比,通过调节B半波片在0至180度范围内改变透射光的偏振方向,第一检偏器检测并记录透射光的偏振方向,通过调节C半波片在0至180度范围内改变反射光的偏振方向,第二检偏器检测并记录反射光的偏振方向,透射光和反射光的偏振方向相同,检测过程中,以固定的角度间隔多次改变透射光和反射光的偏振方向,在每一个偏振方向下均对被测物体进行一次检测并记录数字全息图,对所得数字全息图均进行数值再现,将所有偏振角度下的再现结果进行叠加平均,得到抑制散斑噪声后的检测结果;

第一光束准直单元和第二光束准直单元具有相同结构,均由空间滤波器和平凸透镜构成;

第一光束准直单元接收透射光,空间滤波器对空间线偏振光2a进行扩束和空间滤波处理后,输出至平凸透镜上,经平凸透镜后输出平行光3a,照明被测物体,被测物体表面反射形成包含三维形貌信息的物光4a,输出至CMOS相机;

第二光束准直单元接收反射光,空间滤波器对空间线偏振光2b进行扩束和空间滤波处理后,输出至平凸透镜上,经平凸透镜后输出入射光束5a,输入光程补偿及光束偏转单元;

光程补偿及光束偏转单元包括直角棱镜、第一平面反射镜和第二平面反射镜;入射光束5a入射至直角棱镜,反向平行出射至第一平面反射镜,经第二平面反射镜输出光束6a,输出至CMOS相机;直角棱镜放置于精密位移台上,能够进行在入射光束5a方向上的前后平移,通过前后平移直角棱镜,调节参考光束的光程,第二平面反射镜放置于一维平移台和二维可调节镜架上,实现一维平移和角度旋转;通过调节第二平面反射镜的位置和角度,调整输出光束6a的角度;

物光4a和输出光束6a在CMOS相机的光敏面发生干涉,形成干涉条纹,CMOS相机进行捕获和记录,得到数字全息图。

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