[发明专利]一种在陶瓷基板上制作针栅阵列的工艺方法有效
申请号: | 201510493261.6 | 申请日: | 2015-08-13 |
公开(公告)号: | CN105185721B | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 周冬莲;王啸;何中伟;金龙 | 申请(专利权)人: | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/488;H01L23/49 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司32224 | 代理人: | 耿英,董建林 |
地址: | 215163 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 陶瓷 基板上 制作 阵列 工艺 方法 | ||
技术领域
本发明涉及制作针栅阵列的工艺方法,尤其涉及一种在陶瓷基板上制作针栅阵列的工艺方法。
背景技术
针栅阵列(PGA)封装技术是微电子封装技术的一个分支,传统的芯片封装为周边引线结构,PGA封装是面阵引线结构。其优点是:
1)比传统封装具有更多的I/O数目以及更低的引线电感、电容和信号燥声;
2)能够实现一体化气密性封装结构,具有高可靠性,常用于高可靠和高端领域。
目前,行业中PGA封装引线制作方法采用Au基焊料膏材料和带式钎焊炉实现。其手段类似常规的SMT工艺。缺点是:
1)Au基焊料膏材料货源紧缺,市场采购困难;
2)Au基焊料膏适合大批量产品加工,对于中小批量产品加工,材料成本过高;
3)带式钎焊炉焊接环境控制难度高,焊接周期长,焊接质量难以满足要求。因此,到目前为止,PGA引线可靠性仍是行业技术人员需要解决的棘手难题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种在陶瓷基板上制作针栅阵列的工艺方法。
为解决上述技术问题,本发明提供一种在陶瓷基板上制作针栅阵列的工艺方法,其特征是,包括以下步骤:
采用厚膜成膜或低温共烧陶瓷制作PGA基板;
采用Au基共晶焊料片作为针式引线焊接材料;
选用可伐镀金材料作为针式引线材料;
采用真空共晶焊方法实现针式引线与PGA基板的焊接。
PGA基板为成膜基板或LTCC基板。
在PGA基板上还焊接有焊盘,焊接步骤如下:
a1)将焊料片通过手工或自动粘片的方法放置到PGA基板上的焊区;
a2)在焊料片上压上一陶瓷压片;
a3)带有焊料片的PGA基板及陶瓷压片一同放置到真空共晶焊炉内的加热板上,PGA基板接触真空共晶焊炉的加热板;
a4)按照设置的共晶焊接曲线进行焊接,在PGA基板的焊盘上形成一层共晶焊料层。
针式引线与PGA基板的焊接步骤如下:
b1)将针式引线依次插入石墨定位槽中阵列排列的引线导孔中;
b2)将已上共晶焊料层的PGA基板压入插好针式引线的石墨定位槽中,PGA基板上的焊盘一一对应地顶住各针式引线的钉头,形成焊接组件;
b3)将焊接组件放置在真空共晶焊炉内的加热板上,PGA基板面与加热板接触;
b4)在石墨顶面加上加压压块;
5)按照设置的共晶焊接曲线进行焊接,使针式引线焊接到PGA基板上。
所述共晶焊接曲线包括以下几个阶段:
①时间t1~t2阶段:在室温环境下,抽真空、充氮气;
② 时间t2~t5阶段:以45℃/min的速率升温至温度T3,且从温度T2开始抽真空后再加甲酸;其中,T3>T2>室温;
③ 时间t5~t6阶段:在温度T3下保温60s~90s;
④ 时间t6~t7阶段:以45℃/min的速率升温至温度T4,T4>T3;
⑤ 时间t7~t8阶段:在温度T4和充甲酸环境下保温60s~120s;
⑥ 时间t8~t9阶段:抽真空并保温60s~120s;
⑦ 时间t9~t10阶段:充氮气,冷却至室温。
温度T2=150℃~170℃。
温度T3=焊料片共晶点-(20℃~30℃)。
其特征是,温度T4=焊料共晶点+(30℃~50℃)。
本发明所达到的有益效果:
1)工艺简单,灵活,材料成本较低,适合小批量产品加工;
2) 焊接层连接强度高;
3) 焊接层电阻、热阻都很小,导电性好、导热快;
4) 环境适应性好,耐机械疲劳和冷热疲劳,抗蠕变,长期可靠性高。
附图说明
图1是本发明的工艺流程图;
图2是工艺操作示意图;
图3是共晶焊接曲线图;
图4是共晶焊夹具示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
1技术方案,如图1所示,
1)采用厚膜成膜或低温陶瓷共烧(LTCC)制作PGA成膜基板;
2)采用Au基共晶焊料片(焊片)作为针式引线焊接材料;
3)选用可伐镀金材料作为针式引线材料;
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