[发明专利]感测方法与装置

权利要求书

1.一种感测方法，应用于一感测装置感测一物体的位置，该感测装置外接于一电子装置，该感测方法包含以下步骤：

驱动一光源产生一平面光；

该物体反射该平面光而形成一反射光分布；以及

根据该反射光分布而估计出该物体与该光源间的一相对距离，其中根据该反射光分布而估计出该物体与该光源间的该相对距离的方法包含以下步骤：

取得包含该反射光分布的一第一影像；以及

根据该第一影像中对应于该反射光分布的数个像素而得出一第一位置参数，其中得出该第一位置参数的步骤包含：

对该第一影像中对应于该反射光分布的数个像素进行一质心位置计算而得出该第一位置参数；以及

根据一参考纪录与该第一位置参数而估计出该物体与该光源间的该相对距离；

其中，该质心位置计算是指将各该像素上的亮度作为各该像素所对应的权重，搭配各该像素在该第一影像的位置、各该像素的个数进行计算；

其中，根据该反射光分布而估计出该物体与该光源间的该相对距离的步骤还包含以下步骤：

得出该物体在一第一时点与该光源间的一第一相对距离；

得出该物体在一第二时点与该光源间的一第二相对距离；以及

根据该第一相对距离与该第二相对距离而判断该物体在该第一时点与该第二时点间的移动。

2.如权利要求1所述的感测方法，其特征在于，该光源为一雷射光源或一发光二极体光源。

3.如权利要求1所述的感测方法，其特征在于，该光源发出一出射光线，而驱动该光源产生该平面光的步骤包含：

该出射光线透过一柱状镜而产生该平面光；或

该出射光线透过可转动的一微机电反射镜而产生该平面光。

4.如权利要求1所述的感测方法，其特征在于，该参考记录包含数个参考位置参数，而各该参考位置参数透过一设定流程将一待测物体移动至与该光源间分别相距为数个预设的相对距离，并对该待测物体所反射该平面光而形成的数个参考反射光分布分别进行该质心位置计算而得出。

5.如权利要求1所述的感测方法，其特征在于，还包括以下步骤：

取得包含一反射光分布的一第二影像；以及

根据该第二影像中对应于该反射光分布的数个像素而得出一第二位置参数。

6.如权利要求5所述的感测方法，其特征在于，各该影像分别透过一第一感测单元与一第二感测单元得出，其中各该感测单元分别设置于该光源的两侧。

7.如权利要求6所述的感测方法，其特征在于，该第一感测单元与该第二感测单元在垂直方向与该出射光线所在的水平面所分别形成的相对距离相异。

8.如权利要求1所述的感测方法，其特征在于，该平面光定义的一感测区域位于一实体触控平面或一立体操作平面。

9.一种感测装置，应用于感测一物体的位置，其特征在于，该感测装置外接于一电子装置，该感测装置包含：

一光源，其产生一平面光；

一第一感测单元，设置于该光源的一侧，该第一感测单元根据一反射光分布而估计出该物体与该光源间的一相对距离，其中该反射光分布是由该物体反射该平面光而形成；

一控制单元，信号连接于该第一感测单元，其根据该第一感测单元所感测包含该反射光分布的一第一影像，并由该第一影像中对应于该反射光分布的数个像素而得出一第一位置参数；以及

一储存单元，信号连接于该控制单元，其提供一参考纪录予该控制单元；

其中，该控制单元对该第一影像中对应于该反射光分布的数个像素进行一质心位置计算而得出该第一位置参数，并根据该参考纪录与该第一位置参数而估计出该物体与该光源间的该相对距离；

其中，该质心位置计算是指将各该像素上的亮度作为各该像素所对应的权重，搭配各该像素在该第一影像的位置、各该像素的个数进行计算；

其中，该第一感测单元于一第一时点得出该物体与该光源间的一第一相对距离，于一第二时点得出该物体与该光源间的一第二相对距离，并根据该第一相对距离与该第二相对距离而判断该物体在该第一时点与该第二时点间的移动。

10.如权利要求9所述的感测装置，其特征在于，该光源为一雷射光源或一发光二极体光源。