[发明专利]一种图像传感器芯片及制造方法在审
申请号: | 201510500936.5 | 申请日: | 2015-08-14 |
公开(公告)号: | CN105206633A | 公开(公告)日: | 2015-12-30 |
发明(设计)人: | 刘远良;林峰 | 申请(专利权)人: | 豪威科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 余毅勤 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像传感器 芯片 制造 方法 | ||
1.一种图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:
提供衬底;
在所述衬底上方形成隔离层;
在所述隔离层上形成光刻胶层,并在所述光刻胶层的中心区域进行开口,露出所述中心区域的所述隔离层;
刻蚀所述中心区域的所述隔离层和所述衬底,在所述衬底的中心区域形成沟槽;
除去所述沟槽外围区域剩余的光刻胶层;
在所述沟槽上方以及所述沟槽外围区域的上方形成牺牲氧化层,之后去除;
在所述沟槽内填充掺杂的单晶硅,形成光电二极管区。
2.如权利要求1所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,所述隔离层为氧化硅层或氮化硅层。
3.如权利要求1或2所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,所述隔离层的厚度为
4.如权利要求1所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,利用光刻工艺在所述光刻胶层的中心区域进行开口。
5.如权利要求1所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,利用干法刻蚀工艺在所述衬底的中心区域刻蚀形成所述沟槽。
6.如权利要求1或5所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,所述沟槽的深度为2-3μm。
7.如权利要求1所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,利用湿法刻蚀去除所述沟槽上方以及所述沟槽外围区域上方的牺牲氧化层。
8.如权利要求1或7所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,所述牺牲氧化层的厚度为
9.如权利要求1所述的图像传感器芯片的制造方法,其特征在于,利用外延气相沉积工艺在所述沟槽内填充掺杂的单晶硅。
10.一种利用权利要求1-9任一项所述的图像传感器芯片的制造方法制备的图像传感器芯片。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的