[发明专利]一种检测光路激发光装置在审

专利信息
申请号: 201510504573.2 申请日: 2015-08-17
公开(公告)号: CN105067128A 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 刘锴;于涛;于浩 申请(专利权)人: 苏州优谱德精密仪器科技有限公司
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 李阳
地址: 215100 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 激发 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种检测光路激发光装置。

背景技术

光波长检测是波分复用光通信系统中的信道性能监测以及光传感系统中的传感参量解调等应用中的关键问题,可以采用光栅光谱仪、扫描光滤波器等进行光波长检测。但是常规波长检测设备存在系统结构复杂、体积大、测量速度慢等问题。而在波长检测装置中,激发光一般设计比较复杂,且不能去除背景光。

有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种新型结构的检测光路激发光装置,使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明的目的是提供一种检测光路激发光装置。

本发明的技术方案如下:

一种检测光路激发光装置,其特征在于:包括

光源,用于产生激发光的光源;

过滤片,用于接收所述光源发射的激发光并过滤背景杂质光;

第一凸透镜,用于接收所述过滤片发射的散射的光并将散射的光折射成平行光;

第二凸透镜,用于接收所述第二凸透镜发射的平行光并将平行光进行聚焦;

光阑,用于接收第二凸透镜聚焦的光线,并通过光阑的大小控制通过其的光线强度;

准直镜,用于接收通过光阑的光线,并将光线折射成平行光线。

进一步的,所述光源为He-Ne激光器。

借由上述方案,本发明至少具有以下优点:

本发明装置通过安装在光源后的过滤片过滤了杂质光,且安装的光阑可以用于调节光强的大小,安装的准直镜可以将激发光平行射到检测物上。

上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本发明的结构示意图;

具体实施方式

下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。

参见图1,本发明一较佳实施例所述的一种检测光路激发光装置,包括光源1,用于产生激发光的光源;过滤片2,用于接收所述光源发射的激发光并过滤背景杂质光;第一凸透镜3,用于接收所述过滤片发射的散射的光并将散射的光折射成平行光;第二凸透镜4,用于接收所述第二凸透镜发射的平行光并将平行光进行聚焦;光阑5,用于接收第二凸透镜聚焦的光线,并通过光阑的大小控制通过其的光线强度;准直镜6,用于接收通过光阑的光线,并将光线折射成平行光线。本发明中的光源为He-Ne激光器。

本发明的工作原理如下:

光源发出的光经过过滤片过滤掉背景杂质光,在经过两片凸透镜进行聚焦,设置的光阑可以调节通过光源的大小,最后准直镜用于将接收到的光束平行射出。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,并不用于限制本发明,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

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