[发明专利]彩膜修复机及彩膜修复方法有效

专利信息
申请号: 201510506980.7 申请日: 2015-08-18
公开(公告)号: CN105093584B 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 徐海乐;李启明;吴利峰;朱晓江;丁鹏;方仲贤 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 修复 方法
【说明书】:

发明公开了一种彩膜修复机,用于修复彩膜基板,包括驱动装置、第一感测器、第二感测器、研磨装置和清洁装置,所述驱动装置用于控制所述第一感测器、所述第二感测器及所述研磨装置的位移,所述第一感测器和所述第二感测器靠近所述研磨装置而设置,所述研磨装置能够相对于所述第一感测器和所述第二感测器上下运动,所述第一感测器、所述第二感测器与所述研磨装置相互配合对所述彩膜基板进行修复,所述清洁装置用于清洁所述第一感测器和所述第二感测器。所述彩膜修复机可以避免由于感测模块所带来的二次污染,并且保证感测模块测量高度的准确性。本发明还公开一种彩膜修复方法。

技术领域

本发明涉及液晶显示领域,尤其涉及一种彩膜修复机及彩膜修复方法。

背景技术

彩膜基板是液晶显示装置中重要的一部分,其用于实现液晶显示装置的彩色显示。在彩膜基板的制程中,经常会出现诸如突起、油污、漏出等各种缺陷,影响彩膜基板的平整度或光学品质,因此,通常需要采用彩膜修复机对所述缺陷进行修复,在这过程中,通常需要通过感测器对各个缺陷的高度进行测量例如,在突起缺陷中,需要对所述突起进行高度测量,如果高度超出制程要求,则需要对其进行研磨,然后再次用感测器测量高度(通常简称为“测高”),若不符合要求,则再次研磨,如此循环,直至缺陷的高度在制程要求范围内。在对高度进行测量时,所述感测器与彩膜基板直接接触,而如果缺陷为油污时,感测器在反复地测量过程中,不可避免会沾到油污,从而在下一次测高时污染别的彩膜基板或者彩膜基板的其他部位,造成二次污染,并且难以及时发现,使污染不断地扩大;同时,由于感测器上沾染了油污,会影响下一次测高的准确性。可见,感测器一旦沾上了油污,就容易造成大批量不良品,会造成极大损失。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于,提供一种彩膜修复机,其可以清除感测模块的污渍,从而避免感测模块与彩膜基板再次接触时引起二次污染,同时保证测高的准确性。

本发明还提供一种彩膜修复方法。

为了解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:

一方面,本发明提供一种彩膜修复机,包括驱动装置、第一感测器、第二感测器、研磨装置和清洁装置,所述驱动装置用于控制所述第一感测器、所述第二感测器及所述研磨装置的位移,所述第一感测器和所述第二感测器靠近所述研磨装置而设置,所述研磨装置能够相对于所述第一感测器和所述第二感测器上下运动,所述第一感测器、所述第二感测器与所述研磨装置相互配合对所述彩膜基板进行修复,所述清洁装置用于清洁所述第一感测器和所述第二感测器。

其中,所述清洁装置包括清洗单元和干燥单元,所述清洗单元用于清洗所述第一感测器和所述第二感测器,所述干燥单元用于干燥清洗后的所述第一感测器和所述第二感测器。

其中,所述清洗单元为超声波清洗槽。

其中,所述干燥单元包括净化气罐和喷嘴,所述净化气罐装有净化气体,所述净化气罐与所述喷嘴相连,使所述净化气体能够经由所述喷嘴喷出。

其中,所述净化气体为净化压缩空气。

其中,所述彩膜修复机还包括校正装置,用于校正所述第一感测器和所述第二感测器,使所述第一感测器和所述第二感测器处于同一水平面。

另一方面,本发明还提供一种彩膜修复方法,其特征在于,包括如下步骤:

驱动装置控制第一感测器、第二感测器和研磨装置移到彩膜基板的缺陷的上方;

所述驱动装置控制所述第一感测器下降至所述缺陷的表面,所述第一感测器测量所述缺陷的高度;

若所述高度值不符合制程要求,则所述研磨装置下降至所述缺陷的表面,并对所述缺陷进行研磨;

所述驱动装置控制所述第二感测器下降至研磨后所述缺陷的表面,所述第二感测器测量研磨后所述缺陷的高度;

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