[发明专利]存储器件的快速测试电路及方法

说明书

本发明公开一种存储器件的快速测试电路及方法，其中测试电路包括：CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。本发明够在较短时间内对存储器存储数据的正确性做出判断，同时提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，具体涉及一种存储器件的快速测试电路及方法。

背景技术

目前在各种集成电路内部都存在有存储器件，在生产阶段对存储器件的读写测试是一项重要的质量验证手段，但在没有存储器自测试电路的情况下，只能对存储的空间做全空间遍历读写操作，这样的验证过程是十分浪费时间的，对每个存储单元都包括，写入，读取，比对的操作过程，导致测试效率较低，产品成本提高。

发明内容

本发明一种存储器件的快速测试电路及方法，目的是减少存储器件通过读写方式验证的时间成本。本发明的目的由以下技术方案实现：

一种存储器件的快速测试方法，其特征在于，所述快速测试方法所基于的测试电路包括：CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算，CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器件做读操作时，所述总线接口模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受所述外部测试设备的指令，开始对存储器件内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制；

所述快速测试方法包括如下步骤：

S101，电路复位；

S102，复位后，控制模块等待所述外部测试设备发送测试命令字；

S103，接收到测试命令字后，判断是否需要自动产生存储器件地址，如果需要自动产生存储器件地址则进入步骤s104，如果不需要自动产生存储器件地址则进入步骤s103a；

S103a，如果不需要自动生成地址，那么从总线上采样存储器件地址并进入步骤s105；

S104，按测试命令字的要求生成存储器件地址；

S105，对数据总线上的数据进行采样；

S106，对采样到的数据进行CRC校验码的计算；

S107，判断是否已经覆盖了要求测试的存储器件空间，如果没有覆盖全，则继续进行S103、S103a、S104、S105、S106的流程，如果已经全面覆盖则进入S108；

S108，判断当前进行的是写入过程还是读取过程，写入过程则进入步骤s109，读取过程则进入s110；

S109，将CRC校验码存入写入数据CRC校验码寄存器；

S110，将CRC校验码存入读取数据CRC校验码寄存器；

S111，判断是否要求对写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码进行比较，如果不需要比较则进入S112，如果需要比较则进入S113；

S112，等待所述外部测试设备读取CRC校验码；

S113，比较写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码是否一致，如果一致，则进入S114，如果不一致则进入S115；