[发明专利]基于γ面LiAlO2衬底上黄光LED材料及其制作方法有效
申请号: | 201510509240.9 | 申请日: | 2015-08-18 |
公开(公告)号: | CN105098016B | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 许晟瑞;任泽阳;郝跃;李培咸;张进成;姜腾;蒋仁渊;马晓华 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/02;H01L33/00 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心61205 | 代理人: | 王品华,朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 lialo sub 衬底 上黄光 led 材料 及其 制作方法 | ||
技术领域
本发明属于微电子技术领域,涉及一种LED半导体材料,可用于制作GaN黄光 LED产品。
技术背景
氮化镓以及Ш-V族氮化物具有直接带隙、热导率高、电子饱和迁移率高、发光效率高、耐高温和抗辐射等优点,理论上讲,通过调节In的组分,可以实现对可见光波长的全覆盖,在光电子和微电子领域都取得了巨大的进步。尤其在短波长蓝光—紫外光发光器件、微波器件和大功率半导体器件等方面有巨大的应用前景。
1999年P.Waltereit等人提出在γ面LiAlO2衬底上生长紫光和蓝光的LED全结构的方案,参见Violet and blue emitting(In,Ga)N/GaN multiple quantum wells grown onγ- LiAlO2(100)by radio frequency plasma-assisted molecular beam epitaxy,Applied Physics Letters,75,2029(1999)。该方案使用InGaN/GaN量子阱作为有源区,由于InGaN需要较低的生长温度,InGaN/GaN量子阱会在界面处产生较大的应力,这会导致GaN的结晶质量降低,退化器件的性能,同时,该方案使用的InGaN/GaN量子阱的生长工艺复杂,生长效率低,成本高。
发明内容
本发明的目的在于针对上述已有技术的不足,提供一种基于γ面LiAlO2衬底上黄光LED材料及其制作方法,以简化工艺复杂度,提高生长效率,降低成本,提高LED 器件性能。
实现本发明目的技术关键是:采用MOCVD的方法,通过引入C掺杂,使C元素替换N元素形成深能级,提供复合能级,C杂质可以通过C源引入,也可以通过控制工艺利用MOCVD中的C杂质实现。
一.本发明基于γ面LiAlO2衬底上黄光LED材料,自上而下分别为p型GaN层,有源层,成核层和γ面LiAlO2衬底,其特征在于有源层使用C掺杂和O掺杂的n型m 面GaN层,在GaN中引入C的深能级,为发黄光的电子、空穴提供复合平台。
进一步,C掺杂的浓度为1×1017cm-3~2×1019cm-3,O掺杂的浓度为3×1017cm-3~3 ×1019cm-3。
进一步,p型GaN层的厚度为0.01-10μm。
进一步,n型m面GaN层的厚度为0.2-100μm。
二.本发明基于γ面LiAlO2衬底上黄光LED材料的制作方法,包括如下步骤:
(1)将γ面LiAlO2衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,并向反应室通入氢气与氨气的混合气体,对衬底进行热处理,反应室的真空度小于2×10-2Torr,衬底加热温度为800-1100℃,时间为5-10min,反应室压力为20-760Torr;
(2)在γ面LiAlO2衬底上生长厚度为10-200nm,温度为400-600℃的低温成核层;
(3)在低温成核层之上生长厚度为0.2-100μm,O掺杂浓度为3×1017cm-3~3× 1019cm-3,C掺杂浓度为1×1017cm-3~2×1019cm-3,温度为800-1050℃的高温n型m面 GaN有源层;
(4)在n型m面GaN有源层之上生长厚度为0.01-10μm,Mg掺杂浓度为2× 1017cm-3~3×1019cm-3,温度为800-1050℃的高温p型m面GaN层。
本发明由于采用C掺杂和O掺杂的n型m面GaN作为有源层,与现有技术相比具有如下优点:
1.利用MOCVD中的Ga源中的C作为C源,利用LiAlO2中的O扩散作为O源,降低了生产成本。
2.避免了传统LED结果中的InGaN量子阱生长,简化了工艺步骤,提高了生长效率。
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