[发明专利]位置校准方法、测试电路板、样本面板和位置校准装置

权利要求书

1.一种位置校准方法，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述测试电路板包括第一金手指设置区，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指，所述待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，其特征在于，所述校准方法包括：

S1、提供测试电路板，并在所述测试电路板的第一金手指设置区外侧形成至少一个第一样本金手指；

S2、制作样本面板，所述样本面板包括第二金手指设置区，所述样本面板还包括与每个第一样本金手指对应的第二样本金手指，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置一一对齐；

S3、将所述测试电路板与所述样本面板相接触；

S4、检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当检测到任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接，此时，样本面板的位置即为待测试显示面板的位置。

2.根据权利要求1所述的位置校准方法，其特征在于，步骤S1包括在所述第一金手指设置区的两侧各形成一个第一样本金手指，并使得两个第一样本金手指电连接；

步骤S4包括：

S4a、当两个第二样本金手指电连接时，检测两个第二样本金手指和两个第一样本金手指是否形成导电通路；

S4b、当两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。

3.根据权利要求2所述的位置校准方法，其特征在于，步骤S4a包括：

检测两个第二样本金手指之间的电阻，当测得的电阻为无限大时，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路；否则，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。

4.根据权利要求3所述的位置校准方法，其特征在于，每个第一样本金手指与其相邻的第一金手指之间的距离等于相邻两个第一金手指之间的距离。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的位置校准方法，其特征在于，每个第二样本金手指的两侧分别设置有至少一个旁置金手指，步骤S4包括：

当任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，检测该第一样本金手指与哪个旁置金手指电连接；

当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第一侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第二侧与样本面板发生相对移动；当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第二侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第一侧与样本面板发生相对移动。

6.根据权利要求5所述的位置校准方法，其特征在于，步骤S2包括：

S2a、提供与所述待测试显示面板相对应的衬底基板；

S2b、在所述衬底基板上形成与每个第一样本金手指相对应的第二样本金手指；

S2c、在每个第二样本金手指的两侧分别形成至少一个旁置金手指。

7.根据权利要求6所述的位置校准方法，其特征在于，每个第二样本金手指与其相邻的旁置金手指之间的距离等于所述待测试显示面板中相邻两个第二金手指之间的距离。

8.根据权利要求6所述的位置校准方法，其特征在于，步骤S2还包括：形成与每个第二样本金手指电连接的样本测试部以及与每个旁置金手指电连接的旁置测试部。

9.一种样本面板，用于在测试电路板对待测试显示面板进行测试之前确定待测试显示面板的位置，其特征在于，所述测试电路板包括第一金手指设置区，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指，其特征在于，所述测试电路板还包括位于所述第一金手指设置区外侧的至少一个第一样本金手指，

所述待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，所述样本面板包括第二金手指设置区，所述样本面板还包括与所述测试电路板上的每个第一样本金手指对应的第二样本金手指，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置一一对齐。