[发明专利]一种粉末衍射择优取向参数确定方法

权利要求书

1.一种粉末衍射择优取向确定方法，其特征在于，该确定方法包括以下步骤：

1)测量某种晶体的单相衍射谱图，根据该衍射谱图确定晶体的结构；

2)根据晶体的结构分别计算晶体每个晶面与衍射面的夹角；

3)以粉末样品定向压实时产生择优取向为模型，确定择优取向函数，利用该函数和每个晶面与衍射面的夹角以及设定的择优取向分布参数计算每个晶面的择优取向函数值P，

P＝1/(Gcos²(a)+sin²(a)/G)

其中G为择优取向分布状态，0<G≤1，a为压实后晶面与衍射面的夹角；

4)根据每个晶面的择优取向函数值P得到晶体结构的计算谱图；

5)计算谱图与实际谱图之间的误差，判断误差是否小于设定值，若小于设定值，以此时所选定的择优取向分布参数作为该晶体的择优取向分布参数；

6)调整所设定的择优取向分布参数，重复步骤3)-5)，直至误差小于设定值，以调整后的择优取向分布参数作为该晶体的择优取向分布参数；

7)以晶体的择优取向分布参数计算晶体衍射择优取向，该结果即为所要确定的择优取向值。

2.根据权利要求1所述粉末衍射择优取向确定方法，其特征在于，所述步骤3)中择优取向函数P的确定过程如下：

a)测量未压实时的晶面与衍射面的夹角a和定向压实时晶面与衍射面的夹角b；

b)以压实的比例参数H作为择优取向分布参数G，0<H≤1，H为0时表示最强压实，H为1时表示无压实；

c)根据夹角a和夹角b与比例参数H之间的位置关系计算夹角b概率密度函数，所计算出的概率密度函数即为所求的择优取向函数。

3.根据权利要求2所述的粉末衍射择优取向参数确定方法，其特征在于，所述步骤4)中误差采用均方误差法计算得到。