[发明专利]非接触式测量方法、测量设备及其测量系统

权利要求书

1.一种非接触式测量方法，其特征在于，所述方法包括：

非接触式测量设备利用摄像头对待成像物获取多组不同角度的图片；

根据所述多组不同角度的图片计算得到所述待成像物的立体图像及尺寸；

其中，所述根据所述多组不同角度的图片计算得到所述待成像物的立体图像及尺寸的步骤具体包括：

确定所述待成像物，根据所述待成像物建立成像区域；

根据所述多组不同角度的图片在所述成像区域内选择特征点；

根据所述特征点生成影像金字塔；

解析所述影像金字塔，并得到所述特征点的像方坐标、物方坐标以及外方位元素，以形成数字高程模型；

将解析生成的数字高程模型转化成文档对象模型。

2.根据权利要求1所述的非接触式测量方法，其特征在于，所述确定待成像物的步骤具体为：

非接触式测量设备通过识别参照识别物，进而锁定设置了所述参照识别物的用户或物体为待成像物；

或者非接触式测量设备通过待成像物上的特征点来锁定待成像物；

或者通过操作人员在非接触式测量设备上选取待成像物；

其中，在所述根据所述特征点生成影像金字塔的步骤中，还结合了参照识别物的尺寸，所述非接触式测量设备内存储有参照识别物的特定标识码以及与之对应的尺寸的列表，所述根据所述特征点生成影像金字塔的步骤之前还包括：获取所述参照识别物的特定标识码，再根据所述特定标识码从所述列表中获取与之对应的参照识别物的尺寸。

3.根据权利要求2所述的非接触式测量方法，其特征在于，所述将解析生成的数字高程模型转化成文档对象模型的步骤之后还包括校验的步骤，所述校验的步骤具体包括：

获取所述摄像头的焦距以及所述参照识别物的尺寸；

根据凸透镜成像原理得到所述特征点的距离信息，进而测得所述待成像物的实际尺寸；

将获得的所述待成像物的实际尺寸与根据所述数字高程模型中的待成像物坐标参数形成的尺寸进行对比，如果对比结果在预定的误差范围内，则判断得到的所述待成像物的立体图像准确；如果对比结果不在预定的误差范围内，则返回到所述确定所述待成像物，根据所述待成像物建立成像区域的步骤，以重新拍摄并计算得到所述待成像物的立体图像及尺寸。

4.一种非接触式测量设备，其特征在于，所述非接触式测量设备包括：

图像获取单元，所述图像获取单元包括用于对待成像物获取多组不同角度的图片的摄像头；

图像处理单元，所述图像处理单元根据所述多组不同角度的图片计算得到所述待成像物的立体图像及尺寸；其中，所述图像处理单元包括：

成像确定模块，所述成像确定模块用于确定所述待成像物，并根据所述待成像物建立成像区域；

特征点选择模块，根据所述多组不同角度的图片在所述成像区域内选择特征点；

影像金字塔生成模块，根据所述特征点生成影像金字塔；

解析模块，解析所述影像金字塔，并得到所述特征点的像方坐标、物方坐标以及外方位元素，以形成数字高程模型；

模型转化模块，将解析生成的数字高程模型转化成文档对象模型。

5.根据权利要求4所述的非接触式测量设备，其特征在于，所述图像处理单元进一步包括存储模块和获取模块，所述存储模块用于存储参照识别物的特定标识码以及与之对应的尺寸的列表；所述获取模块用于获取所述参照识别物的特定标识码，再根据所述特定标识码从所述列表中获取与之对应的参照识别物的尺寸。

6.根据权利要求5所述的非接触式测量设备，其特征在于，所述图像处理单元还包括校验模块，所述校验模块用于获取所述摄像头的焦距以及所述参照识别物的尺寸；根据凸透镜成像原理得到所述特征点的距离信息，进而测得所述待成像物的实际尺寸；将获得的所述待成像物的实际尺寸与根据所述数字高程模型中的待成像物坐标参数形成的尺寸进行对比，如果对比结果在预定的误差范围内，则判断得到的所述待成像物的立体图像准确；如果对比结果不在预定的误差范围内，则进行确定所述待成像物，根据所述待成像物建立成像区域的步骤，以重新拍摄并计算得到所述待成像物的立体图像及尺寸。

7.根据权利要求4-6任一项所述的非接触式测量设备，其特征在于，所述非接触式测量设备包括一个或者一个以上的摄像头。