[发明专利]一种简易的SAS、SATA信号走线阻抗测试方法在审
申请号: | 201510525941.1 | 申请日: | 2015-08-25 |
公开(公告)号: | CN105137196A | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 朱黎 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/16 | 分类号: | G01R27/16 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 简易 sas sata 信号 阻抗 测试 方法 | ||
1.一种简易的SAS、SATA信号走线阻抗测试方法,其特征在于,该方法是通过以下步骤实现的:
1)、将线缆Cable接在矢量网络分析仪或其他TDR设备,然后进行Ecal校正,Ecal校正时去除来自仪器硬件的系统误差以及线缆段的影响;
2)、接上SAS、SATA的SI测试治具,在阻抗跳变点打上Mark,作为背板或其他SAS、SATARealTrace的阻抗测试起点;
3)、将治具接在待测的DUT上,观察待测DUT上SAS/SATA实际走线的阻抗情况。
2.根据权利要求1所述的一种简易的SAS、SATA信号走线阻抗测试方法,其特征在于,将线缆Cable接在矢量网络分析仪E5071C及SASPlugTestAdapter治具上。
3.根据权利要求1所述的一种简易的SAS、SATA信号走线阻抗测试方法,其特征在于,Ecal校正时选择Differential1-port除来自仪器硬件的系统误差以及线缆段的影响。
4.根据权利要求1所述的一种简易的SAS、SATA信号走线阻抗测试方法,其特征在于,用Deskew的方式,在Ecal校正后校正其他治具时间偏移量,直接将治具上的走线的偏移量去除,忽略掉治具上走线的阻抗变化。
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